その3(同時サンプル)前回説明したように、AIボードの信号の基準化には2種類の方法がありました。AIボードは通常複数CHの同時サンプルをおこなえる構造になっています。ここでは、各基準化での複数CHの測定について説明します。1.差動測定システム複数の入力CHをアナログマルチプレクサで切替、差動測定システムに信号を入力します。このシステムでは、複数のアナログ入力を完全に独立した形(各入力ごとに基準がとれる)で同時サンプルできます。差動測定システムのメリットを最大限に利用できますが、他の測定システムに比べて同時サンプルCHが半分になります。2.非基準シングルエンド測定システムこれは、「差動測定システム」と同様、入力側の片側を接地しないで、共通にしてあります。基準となるレベルが共通の場合、「差動測定システム」の2倍のCH分同時サンプルできます。3.基準シングルエンド測定システム前記2つの測定方法と異なり、基準を接地として測定をおこないます。これも、「差動測定システム」の2倍のCH分同時サンプルできます。各測定システムには、それぞれメリット・デメリットがあります。効率だけでなく、被測定物の特性や耐ノイズ性などを考慮して選択する必要があります。[次へ]このWebサイトに関するご質問やご感想などについては、info@ocs-lv.co.jpまで電子メールでお送りください。本ホームページに関する著作権は、(有)オーシーエスに帰属します。各社の商標または登録商標です。掲載されている内容の使用に関して、直接的及び間接的に生じる一切の損害についていかなる責任もおいません。当社は、日本ナショナルインスツルメンツ(株)社のアライアンスプログラムのアソシエイト会員です。(有)オーシーエス最終更新日:2003-04-04。