データ・アクイジション・システムの理想的な伝達関数を示します。示した理想的な伝達関数からのずれが生じます。最終的に出力されるコードと比較します。すると、システムのキャリブレーション・ファクタを求めることができます。コードが出力されます。通常、ある程度のオフセット誤差(εb)があります。入力した時の理想的な出力コードと測定された出力コードとの偏差として定義されます。データ・アクイジション・システムでのオフセット誤差は、入力を接地して、最終的な出力コードを測定するれば確認できます。各チャンネル間でも異なります。通りのゲイン設定すべてにおいて、チャンネルごとに測定します。このシステムは複数のチャンネルをモニタするため、チャンネル間でのオフセット誤差の偏差を定量化することも重要です。MAX)とは、チャンネルごとのオフセット誤差と全チャンネルのオフセット誤差の平均値との間の最大偏差を表す尺度のことをいいます。次式を用いてオフセット・エラー・マッチを計算できます。チャンネルでのオフセット・エラーです。.このオフセット・エラー・マッチは各ゲイン設定に対して存在します。オフセット誤差は、コード単位でもボルト単位でも表現できることに注目してください。ゲイン誤差の測定システムのゲイン誤差は、システム全体の不正確さにもつながります。出力コードが、それぞれ、負のフル・スケール入力電圧(-FS)と正のフル・スケール入力電圧(+FS)に対応しています。オフセット誤差(εb)とゲイン誤差(εm)が組み合わされると、この関係からの偏差が生じます。ゲイン誤差は実際のシステム・ゲインと理想的なシステム・ゲインとの間の誤差をパーセンテージで表したものです。コードを出力する入力電圧の理想値と実測値の間の誤差を表す尺度です。ビット)とリファレンス電圧(VREF)の精度の関数で表せます。ゲイン誤差につながります。高精度マルチ・メータで測定します。理想的なフル・スケール入力電圧は、次式で計算できます。実際のシステム・ゲインは、複数の入力電圧のグループとその出力コードの線形回帰の傾き(mLR)を計算し、次のように求めることができます。REAL)は次式から計算できます。これより、ゲイン誤差(%FSで表したもの)は次式で計算できます。ゲインに応じて変化しますが、チャンネルごとに独立しています。チャンネルを用いるだけで済みます。これは、フル・スケールの信号振幅を増大するか、システムの部品が生成するノイズ・パワーを減少すれば達成することができます。入力に関わる、個々の部品に起因するノイズ・パワーの二乗和平方根(rss)を取って次式のように求めることができます。予測値(SNREXPECTED)は、次のように求まります。この全システムのノイズ計算では、システムの受動部品が関与する熱雑音は無視しています。ノイズは、固有の量子化誤差と内蔵部品(例えば熱雑音を生成する受動部品)に起因するノイズの両方を含む関数で表せます。用いると、次式で計算できます。フィルタが上流部品からの広帯域ノイズを制限しています。その時定数も十分に短くし、電圧キックバックを安定化する必要があります。入力がフロントエンド回路に再接続する際に発生する電荷注入によって起こります。A/Dコンバータ(ADC)のフロントエンド・アンプとRCフィルタの設計」をご覧ください)。フィルタの帯域幅(BWRC)を含む関数で表され、次式で求められます。