計算し、次のとおり見積もることができます。従って、システムのチャンネル・スイッチングのサンプリング・レートの最大値は、次のように見込まれます。各ゲイン設定での全チャンネルのオフセット誤差の平均値も示します。点集め、これを平均して行いました。回路の各ゲイン設定に対するゲイン誤差の測定値を示します。単位の実際のゲインは、理想的なゲインからこの誤差を差し引いて計算しました。した場合の高速フーリエ変換(FFT)を示します。シリーズの信号発生器を使用して供給し、ボードの設定は差動入力モードとしました。各ゲイン設定での入力信号周波数に対する全高調波歪み(THD)の測定値を示します。0.4、単一静的チャンネルの場合。0.8、単一静的チャンネルの場合。1.6、単一静的チャンネルの場合。3.2、単一静的チャンネルの場合。複数チャンネルのスキャン時のシステム性能を評価するため、いくつかの試験を行いました。ご覧ください)とチャンネル間の電圧ステップ・サイズを変化させて測定しました。つの位相の異なるフル・スケール入力間のスイッチングを測定しました。特性試験の構成を示しています。サンプリング・レートと等価なものです。チャンネル間の電圧ステップ・サイズとチャンネル・スイッチング・レートを変化させて測定しました。電圧ステップ・サイズは、各ゲイン設定に対応した範囲で変化させました。サンプルついて平均化したものです。静的な(チャンネル切り替えがない)場合についても、チャンネルごとの平均コードの結果を測定しました。以下で検討する平均コード誤差は、静的チャンネルで測定した平均コードと、スイッチング・チャンネルで測定した平均コードとの差を取ることで求まります。通りのゲイン設定それぞれについて、複数のスイッチング・レートで電圧ステップ・サイズを変えたときの平均コード誤差を示しています。通りのゲイン設定について、スイッチング・レートを変えたときのフル・スケール電圧ステップでの平均コード誤差を示しています。3.2電圧ステップ・サイズとチャンネル・スイッチング・レートが増加するにつれ、平均コード誤差は増大します。この増大は、信号チェーン内に存在する部品のスルーとセトリング時間による制限が組み合わされた結果です。ステップ・サイズが大きくなると、システムはより大きな電圧変動を安定化させなければなりません。チャンネル・スイッチング・レートが上がると、こうした変動を安定化するためのシステムの許容時間が短くなります。参照)、ステップ・サイズやスイッチング・レートが十分に大きくなると、平均コード誤差は予測できないほど増大します。計装アンプ内の入力バッファ・アンプのスルー・レートの制限が原因です。比較して評価しました。用いて、フル・スケールの正弦波を一方のチャンネルに入力し、その正弦波を反転したものをもう一方のチャンネルに入力しました。刻みで変えて行いました。劣化し始めます(ゲイン設定に依存します)。