■半導体テスタのためのテスト技術の総集編このサイトは創作幸房の自分で学ぶ技術セミナーシリーズからテスト手法の総集編です。ここでは若手技術者の自己啓発の一環として大型自動検査装置(ATE)におけるテスト技術の総集編としてDCからAC(RF)まで学んでいきます。参考のテスター構成などは創作幸房の半導体量産テスト用の大型自動検査装置の経験に基きます。注意として資料の活用はご自身の判断と責任で行っていただけますようお願いいたします。測定データの変動を時間的な変動(または周波数応答)として観た場合1.比較的低速なドリフト2.測定系や測定法による、ある周波数帯域での不規則なデータの変動(外乱も含む)3.熱的な揺らぎなどによるランダムノイズなどが考えられます。2.スムージング:移動平均(個々の測定サンプル値を毎回参照せずに過去からの任意の測定期間での平均値を順次適用する)を用いることで、周波数応答でのローパスフィルタと同様の効果を得ることが出来る。3.アベレージング:測定現象が周期的な場合、ランダムなノイズは同期加算を行うことにより加算回数に応じた低減が可能になる。■平均回数を増やせばノイズの影響を下げられるが、測定時間は長くなる。外乱を含めて平均すると測定値は安定するが、外乱がランダムでない場合は外乱の平均値の影響を受ける。資料の活用に関してはご自身の責任で判断いただけますようお願いいたします。引用する場合はソースを明示していただけますようお願いいたします。資料の活用に関してはご自身の責任で判断いただけますようお願いいたします。引用する場合はソースを明示していただけますようお願いいたします。資料の活用に関してはご自身の責任で判断いただけますようお願いいたします。引用する場合はソースを明示していただけますようお願いいたします。資料の活用に関してはご自身の責任で判断いただけますようお願いいたします。引用する場合はソースを明示していただけますようお願いいたします。テスタ構成例1.高速コンバーターなどの小容量メモリ用のアルゴリズミックテストパターン例です。2.高速コンバーターなどの小容量メモリ用のテスタ構成例です。資料の活用に関してはご自身の責任で判断いただけますようお願いいたします。引用する場合はソースを明示していただけますようお願いいたします。右カラムの参照ページでは創作幸房が訪問セミナーとして実施している、テスタによるデジタル信号処理技術のセミナー資料を網羅しています。AD,DA変換時のデジタルドメインでのテスト手法としてご活用ください。基礎の理論に加えて実務に沿った実例も交え、解説したセミナー資料です。今までの知識や基礎を見直し、磨くつもりで自己啓発の参考にしていただければ幸いです。(実務としては半導体デバイス測定用のテスト・パッケージの設計・開発と運用・維持にもご活用下さい)このサイトが、実際にあなたの目的達成のお役に立てれば幸いです。あなたが目的を達成され、次の目的へと向かわれますように応援しています。ご意見とフィードバックをいつでも歓迎いたします。掲載ガイドライン学習には個人差があります。サイトの訪問者の方に誤解を与えたり不快感を感じるような誇大な表現は極力排除するように努めております。出来る限り事実をお伝えし、目的達成に少しでも貢献できますように改善に努めて参ります。:稲岡辰夫e-mail:contact@creation-works.comTEL:050-1349-1322(連絡はなるべくe-mailでお願いします)当サイトは基本的にリンクは自由ですが、以下のような内容のサイトはご遠慮ください。当サイトは、サイト内のアクセス状況の把握のために、クッキー、ウェブ・ビーコンなどの汎用技術を用いています。取得したホスト情報などはサイト・広告利用状況の集計に使用させていただくことがあります。個人情報に関する詳細はページ下部のプライバシーポリシーをご覧ください。reserved創作幸房:サイト。