と今回のいずれも、以下に示した分析条件で各社の動向を考察しました。特許データベースの使い方が分かれば、皆さん自ら、下記の条件検索パラメータを活用して確認できます*B-1)。IPC(国際特許分類)は国際的な特許分類ではあるが、必ずしも同一基準で付与されているわけではない。日本特許庁は特許の主題(クレーム)に基づき、日本特許特有の特許分類FI(ファイリング・インデックス)を付与している。付与されたFIを機械的に変換されたものがIPC(国際特許分類)となっていることに注意が必要だ。パワー半導体を分析するには既に用意された特許分類だけを用いた特許検索では無理があります。そこで、IPC(国際特許分類)と技術用語を組み合わせた簡略な特許検索式を作成しました。SiC/GaNデバイスの特許検索に利用できそうなIPCとしては次のものがあります。25/04:「複数の個々の半導体または他の固体装置からなる組立体」のうち、「個別の容器を持たない装置」SiCデバイス簡略特許検索式SiCあるいは炭化珪素、炭化ケイ素という材料を示す技術用語が、発明の名称/Title、特許請求の範囲/Claims、抄録/Abstractに使われているであろうことを考慮すると、簡略な検索式は次のようになります。IPCはクレームに基づき付与されるので、付与された特許の技術分野は特定されたことになります。Carbide)GaNデバイス簡略特許検索式GaNあるいは窒化ガリウムという材料を示す技術用語が、発明の名称/Title、特許請求の範囲/Claims、抄録/Abstractに使われているであろうことを考慮すると、簡略な検索式は次のようになります。IPCはクレームに基づき付与されるので、付与された特許の技術分野は特定されたことになります。(元)キヤノン株式会社メールアドレス:sugata.masao[at]tbz.t-com.ne.jp1949年、神奈川県生まれ。