1を用いて、宇宙線に起因する電子機器の誤動作(ソフトエラー※2)を再現して試験可能であることを実証し、試験方法を確立しました。用いた「ソフトエラー試験サービス」の提供を2016年12月19日から開始します。進む通信装置などについて、開発・検証段階においてソフトエラーによる故障発生率の予測ができるだけでなく、ソフトエラーが発生することを前提とした、エラーの検出やエラーへの対処などの確認も可能となるため、さらなる信頼性の向上が期待できます。今後は、高い信頼性が必要とされる様々な種別の電子機器などについても、適用領域の拡大を目指していく予定です。加え小型化・省電力化が強く求められており、半導体デバイスの高集積化が必要とされています。地球上には、宇宙線が大気と衝突することにより発生する中性子線が降り注いでいます。半導体デバイスの高集積化・微細化に伴い、デバイス内でビットを判定するのに必要な電荷は減少傾向にあります。そのため、宇宙線由来の中性子線によって発生する二次粒子の微小な電荷の影響を受けやすくなり、従来の電子機器に比べソフトエラーの発生確率が増加しつつあります(図1)。NTTでは、通信装置の信頼性向上のため、中性子線が引き起こすソフトエラーの影響について研究を行ってきました。3にてソフトエラー試験技術を確立しました。SG5※5本会合にて勧告化の承認がされました。用いたソフトエラー試験が可能であることを確認し、この研究成果をもとに、NTT-ATにて「ソフトエラー試験サービス」の提供を開始することとなりました。中性子線照射エリアの制御を目的にソフトエラー試験照射系を構築し、実験を行いました(図2)。本試験系は、サイクロトロンによってソフトエラー試験を実現可能とするエネルギーである加速された18MeVの陽子をベリリウムターゲットに照射することにより、中性子を発生させることができます。実験の前には粒子輸送シミュレーションを行い、事前に中性子空間分布を把握しました。ソフトエラーを再現できることを確認しました。本加速器では、中性子発生源の近傍で試験をすることにより、従来方式に比べてソフトエラーを再現する時間を最大で1/100に短縮しました。これは、自然界に対して約1億倍での加速に相当し、この倍率は任意に調整できることを確認しました。今回、システム内の特定のLSIに照射したい場合やシステム全体に照射したい場合に対応するため、照射エリアの制御ができることを確認しました。具体的には、数cm程度の特定箇所のみへの照射、約50cm×50cm程度の広い範囲への照射の両方で試験ができることを確認しました。3.ソフトエラー試験サービス試験対象の電子機器に中性子を照射し、発生するエラーを判定することにより、実環境におけるソフトエラー耐力を測定する試験サービスをNTT-ATより提供します。SG5で策定中の国際標準に準じた内容です。部品や装置レベルの試験結果から、実フィールドにおけるソフトエラー発生確率を推定することが可能です。ソフトエラーが発生した時の装置の動作を確認することが可能です(図3)。利用イメージネットワークサービスを行っている通信装置などが一時的に故障し、製造元にて故障解析を行ったとしても原因を特定することができないケースがあります。このような場合、本サービスによりソフトエラーを再現させることで、ソフトエラーによる故障かどうか判別できます。装置に施したソフトエラー対策の有効性を本サービスにより確認可能です。電子機器の設計段階にて、本サービスにより、ソフトエラー発生箇所を早期発見し、事前に対策を講じることが可能となります。以下窓口にお問い合わせください。その後、試験結果の報告書を提出します。m程度の比較的小型の加速器中性子源のこと。いった分野を中心に、大型の原子炉や全長数百m以上にわたる長大な加速器が利用されてきた。このような大型施設は日本国内に数カ所しか存在せず、その利用機会は限られたものであった。街中にも建設でき、各地に普及可能である。期待が高まっており、建設が世界各地で急速に推進されている。永久的にデバイスが故障してしまうハードエラーとは異なり、一時的な故障でデバイスの再起動やデータの上書きによって回復する故障。ソフトエラーが発生する主な要因は半導体デバイスに微量に含まれる放射性同位元素から生成されるα線と、宇宙線によって生成される中性子線がある。中性子線は、太陽や超新星爆発によって飛来する陽子を主体とした高エネルギー粒子が地球の大気に突入すると、大気中の窒素原子核や酸素原子核と衝突し、原子核内部にあった中性子が飛散することで発生する。大気中で発生した中性子の大部分は通常、半導体デバイスに突入しても透過し何ら影響を与えないが、まれに半導体デバイスを構成するシリコン原子核と核反応を起こし、電荷を持った様々な粒子(陽子、α粒子等)を発生させる。これが電気的なノイズとなり、一時的なエラーであるソフトエラーを発生させる。半導体加工技術の微細化や半導体デバイスの高集積化の進展に伴って増加する傾向にあり、ソフトエラー対策の重要性が高まっている。使った多種多様な中性子実験を行うことができる自由度の高い比較的小規模な実験設備であり、40年以上にわたって多くの成果を生み出している。SG5ITUは国連の一機関であり、その中でITU-Tは電気通信の標準化を行っている。5)は環境と気候変動の課題を検討している。370)により陽子を加速し、ベリリウムターゲットに照射することで中性子を発生させることができる。陽子の加速エネルギーは18MeVである。サイクロトロンのサイズは2.4m×1.8m×2.0mで非常にコンパクトである。Corporation。