向けに個別半導体、特にパワーデバイスの需要は今後、飛躍的に伸びることが予測されています。パワーデバイスは、大きな電流、急激な温度変化など、通常の半導体デバイスとは異なるストレスの影響を受け、その信頼性をいかに保証するかが重要な課題となっています。中心になって策定され、今や世界標準になっているAEC-Q101があります。認定するための信頼性試験規格で、必要サンプル数の多さや試験時間の長さから評価コストが膨大になるという問題があります。2016年に発行され、現在、IECへ提案し国際標準化を進めています。ついて、考え方、使い方について詳細に説明します。等も注目されています。必要性と問題点と知っておくべき国際規格についても、半導体メーカの立場から詳細に解説致します。国内の規格作成動向と国際規格化の。