さまざまな膜厚測定の課題に最適なソリューションをご提案いたします。10μmの集光レンズを搭載可能で、従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。●検出器には半導体検出器の中でも最高性能のSDD(シリコンドリフトディテクター)を搭載し、短時間で高精度の測定が可能になりました。●プリント基板やコネクターの小型化、薄膜化に対応できます。●多くの測定点を自動的に試験するプログラム可能XYテーブル●専用ソフトウェアによる、測定結果を迅速に分かりやすく。