Japanese)近年、コンピュータを用いた判断処理が日常的に使用されるようになってきた。コンピュータによる一般的な判断方法には、いわゆるif-thenルールが用いられている。複数のif-thenルールを効率よく、わかりやすくまとめる方法としては、決定木(ツリー構造)がある。図5は、決定木の一例を示している。Function)を使って局所的な判断を行う非終端節点(a1、b1,b2)とにより構成されている。コンピュータが何らかの判断を行う場合には、最上位にある非終端節点a1(ルート)より単一テスト関数による判断に基づいて子節点(下位節点)へと判断分類を行い、最終的に終端節点における決定結果に基づいて判断を行う。入力データ:X=(0.1、0.8)として、図5に示す決定木を用いてClass0又はClass1の分類を行う場合を考える。コンピュータは、最上位にある非終端節点a1(ルート)におけるテスト関数:X1<0.5?に基づく判断を行う。入力データ:X=(0.1、0.8)より第1のX要素(X1)=0.1は、0.5よりも小さくなるのでX1<0.5の条件を満たすものと判断され、ルートの下位の非終端節点であってルートのテスト関数を満たす場合に次の判断が求められる非終端節点b1へと処理が移行する。コンピュータは、非終端節点b1におけるテスト関数:X2<0.5?に基づく判断を行う。入力データ:X=(0.1、0.8)より第2のX要素(X2)=0.8は、0.5よりも大きいので、X2<0.5?の条件を満たさず、非終端節点b1の下位の終端節点であって決定結果としてClass1を備える終端節点C2へと処理が移行する。コンピュータは終端節点c2において決定結果としてClass1の決定結果を取得して、入力データ:XがClass1であると判断する。このように、各非終端節点で単一変数テスト関数を用いて判断を行わせることによって、判断内容をif-thenルールで示すことができるので、理解しやすいという特徴がある。Tree)とも呼ばれる。ADTPを構築する既存の方法として、CART(例えば、特許文献1参照)やC4.5(例えば、非特許文献2参照)等が知られている。単一変数テスト関数を用いて判断処理を行うAPDTでは、判断を行うためのデータ数が一定以上になると性能(認識率など)が飽和してしまうとともに、決定木のサイズ(節点の数等)がデータ数に比例して大きくなってしまう(例えば、非特許文献3参照)。このため、決定木のサイズが大きくなり節点数が増加すると、対応するif-thenルールが非常に長くなり、理解が困難なものとなってしまうという問題があった。function)を用いることにより節点数を減らす方法も提案されている。ODTでは次式に示す式1のようなテスト関数が用いられている。・・・・・(1)ここで、Ndは特徴(テスト関数において分類が行われる入力データの要素)の数、xiはi番目の特徴、wiはi番目の重み係数、θは閾値である。通常、F(X)<0の場合、xを左子節点に割り当て、F(X)≧0の場合、xを右子節点に割り当てる。このようなF(X)に対応する決定境界は一般の超平面となるので、APDTよりもODTの方が効率よくデータを分類することができる。テスト関数生成システム、多変数テスト関数生成方法および多変数テスト関数を生成するためのプログラムに関する。所定値以上を示す前記訓練用データを用いて前記分類データのデータ情報の修正処理を行うことを特徴とする多変数テスト関数生成システム。前記訓練用データの要素データにおける空間座標から最近傍となる分類データのクラス情報が前記訓練用データのクラスと異なる場合に、当該分類データのデータ情報を前記要素データの空間座標から遠ざかるように修正し、さらに前記訓練用データと同一クラスのクラス情報を有する分類データのうち、前記要素データの空間座標に最近傍となる他の分類データを求めて、当該他の分類データのデータ情報を前記要素データの空間座標に近づくように修正することを特徴とする請求項3に記載の多変数テスト関数生成システム。前記訓練用データの要素データにおける空間座標から最近傍となる分類データのクラス情報が前記訓練用データのクラスと同一の場合に、当該分類データのデータ情報を前記要素データの空間座標に近づくように修正することを特徴とする請求項3に記載の多変数テスト関数生成システム。値が所定値以上を示す前記訓練用データのみを用いて前記最近傍分類データ検出手段に前記分類データの検出を行わせることを特徴とする多変数テスト関数を生成するためのプログラム。値が所定値以上を示す前記訓練用データのみを用いて前記最近傍分類データ検出手段に前記分類データの検出を行わせることを特徴とする多変数テスト関数を生成するためのプログラム。Japanese)本技術について、ライセンスや共同研究等をご希望の方は、下記「問合せ先」まで直接お問い合わせください。