【B1500A】は、CVとIV測定機能を統合した半導体デバイス・アナライザ。65nmと微細なプロセスに適応した、パラメータ特性評価および解析向けの拡張性に優れたオールインワン・ソリューションで、半導体テストエンジニアの作業時間の短縮と生産性向上を実現。モジュール方式を採用、Windowsベースで、10スロットを装備。少量粉体バッチ計量充填システム(株)サタス【少量粉体バッチ計量充填システム】は、粉体アクチュエータ、電子天秤とパソコンで構成された装置。パソコンの精度設定機能により精度設定を行い、充填量の合否判定が迅速に行える。充填計量値は表計算ソフトウェアで読込みできるため、パソコン上に保存し、管理に使用できる。XP環境により、容易にデータ管理と解析が行え、デバイス特性評価と信頼性試験が行えるシステム。KTEI5.0は、データ喪失やハードウェア/ネットワーク接続の設定を変更せずに既存の4200-SCS型にインストール可能。B6700日本エンジニアリング(株)【B6700】は、デバイスの多様化に対応するためハードウェア、ソフトウェアの拡張性を重視したシステム構成のテスト・バーンイン・システム。ユーザがマルチタッチの操作で容易に取得データを採取し、変更することができる拡張性を持ったオペレーティングシステム「OCTLEON」を採用。従来の「P3500シリーズ」とバーンイン・ボードの互換性があり、既存のバーンイン・ボードの有効活用が可能。テスタ】は、アナログIC(センサーやパワー系)の検査を目的とした汎用テスタ。製品毎の検査内容に合わせ、搭載している測定器を入れ替えることが可能なため、製品が変わる毎に設備を新たに購入する必要がない。R.S.T.Proシリーズ(株)ウルトラエックス【R.S.T.Proシリーズ】は、メモリモジュールメーカ、PCメーカで使用されている業界標準のメモリ診断ツール。従来のメモリ診断アルゴリズムに加え、メモリに強力な負荷を与え発見されにくい問題を検出する独自診断アルゴリズムを搭載。メニュー形式のユーザインタフェースを採用し、操作は容易。PCIまたはUSBにより接続。Basicソフトウェアを組合わせ、容易にI-V測定を行うことができるベンチトップタイプのパラメータアナライザ。半導体/電子部品の検証・解析・試験に適しており、簡易的な信頼性試験にも対応。個々の試験ニーズに応じて測定器を簡単に増減できる柔軟性を持ち、アクセスしやすい豊富な試験ライブラリを用意している。【4225-PMU型】は、同社の4200-SCS型半導体特性評価システム用の超速I-Vモジュール。高速で複数レベルの電圧パルスを出力し、電流と電圧を同時に測定する2つのチャンネルを提供。本製品は、半導体特性評価システム“4200-SCS型”のパルスIVハードウェアオプション及び試験環境ソフトウェアの機能を強化したアプリケーションパッケージ。機能強化されたパルスジェネレータ・カードと新しいスコープ・カードは、研究、生産に携わる研究者に強力な新機能を提供。大幅に刷新された4200-PIVパッケージと2つの新アプリケーションにより応用範囲を拡大。新着リリース一覧コヒレント、レーザパワーメータの年度末ディスカウントキャンペーンを開始コヒレント・ジャパン(株)磁界DC&10Hz~400KHzを継続的にモニタリングウェーブクレスト株式会社5Gに。