ためのシミュレーションを行うこともできる。[5]章で述べるような粘弾性試料を計測するための接触系用ソフトウエアも組み込まれている。走査型プローブ顕微鏡(SPM)実験装置から直接出力されるデータファイルを読み込み、実験画像データに様々な画像処理を施すことによって、新たな知見を得ることを目的としたソフトウエアである。画像と実験データ画像との比較を行い、シミュレーション結果の妥当性を評価するとともに、試料形状についてより確実な推測を行うこともできる。コンセプトは、以下のフローチャートにまとめられる。起動方法は、以下の通りである。Bar”の[Tool]→[Analyzer]をクリックする。専用のウィンドウが現れる。示すフォーマットのファイルを、画像データとして読み込むことが可能である。.jpeg.png.tif画像データの読み込み方は以下の通りである。Bar”の[File]→[Open...]をクリックする。File”用のダイアログが現れるので、そこで開けたいデータファイルを指定すれば良い。平面と、試料が載せられている基板面とは、互いに平行であるとは限らない。平面に対して、基板面は傾いているのが普通である。すると、試料表面の高低差よりも、基板面の傾きによって生じる高低差の方が大きい場合、試料表面の凹凸は目立たなくなってしまい、結果として、実験データ画像を見ても試料表面の様子が良く分からない、といった不都合が生じてしまう。基板面の傾き補正機能が備えられている。傾き補正機能の使い方は以下の通りである。ような画像データファイルが開かれているとする。tilt]を選んでクリックする。示されるように、基板の傾き補正を行ったものに切り替わる。試料表面の細かな凹凸がはっきりと見えるようになったことが分かる。方向のそれぞれの走査線上のデータを、最小二乗法フィッティングで直線近似する。平面に対する傾きの平均を取る。最後に、傾きの角度の平均値を補正するように、画像データは変換される。次元フーリエ解析を行い、高周波を強調した画像、もしくは、低周波を強調した画像に変換する機能が用意されている。高周波を強15調した画像は、オリジナル画像の輪郭線を強調することに対応する。低周波を強調した画像は、オリジナル画像の背景の変化を強調することに対応する。次元フーリエ変換とは、どのような操作かを説明する。