システム通電状態のプリント基板面を小型の電磁界プローブが非接触で電磁界の測定を行います。ノイズ分布図とカメラで取り込んだ実際の基板画像を重ね合わせ表示するので、パターンのノイズ発生状況が一目で分ります。01-00048A、3000en用電界プローブMODEL01-00046Aを用意しています。半導体用エミッション測定システム半導体デバイスの微細化・高速化に伴い、ノイズは増加し、電子機器レベルのEMIノイズの駆動源と考えられる半導体デバイス単独レベルでEMI測定を行います。測定・可視化表示され、筺体ベースでのEMI対策に効果を発揮します。不要輻射(EMI)測定システムEUTより放射される不要輻射のノイズ強度を測定・評価するシステムです。RF放射・伝導性イミュニティ試験システムEUT及び接続されたケーブル類が不要な電磁界に曝された場合の妨害耐性評価を行うシステムです。レポートの出力等の試験プロセスをパソコンや専用ソフトを使用せずに本器のみで可能です。再現性ある妨害ノイズ測定を行う為に、電源ラインのインピーダンスを一定化する必要があります。本器をラインに挿入する事により、EUTから見た電源ラインのインピーダンスを一定にします。電源ラインインピーダンスは周波数特性を持っていますが、その特性カーブは、CISPR等により規定されています。025-260-2710。