3装置を用いて、局所的な電子の運動を計測する新しい2つの測定手法(高速/精密モード)の開発に成功しました。高速モードでは、従来の測定時間を50%削減した高速測定が可能となりました。精密モードでは、試料の回転を伴う測定においても、試料の偏芯を予測し、試料上の目的位置を高精度(10ミクロン以下)に追跡した測定が可能となりました。発展に大きく貢献します。局所領域の光電子顕微測定を活用した機能性材料のオペランド計測などの応用研究への展開も期待できます。限らず、様々な光電子分光装置への適用も可能であることから、広く光電子分光に関わる計測・分析技術の発展に大きく貢献します。Reports」に掲載されました。オペランド計測では、動作下・外場下のデバイス試料中の電子の運動を局所計測・分析することで、デバイス上のどこで、どのように機能・反応・劣化が生じるのかを明らかにすることが出来ます。:固体に光を入射して、光電効果により固体外に放出される電子の「エネルギー」と「角度」を計測することで、固体中で電子の運動を調べる実験手法(図1の模式図を参照)。