最大0.2%のゲイン誤差があります。電圧降下などのサンプル&ホールド回路で発生する要因も含め、これらの要因をすべて考慮することが必要です。導電率測定の精度を測定した結果を示します。これは1μS~0.1Sの導電率に対応する、1MΩ~10Ωの高精度抵抗を使用して取得したものです。範囲でシステム誤差が明らかに増加しています。参照)に対するキャリブレーション方法が必要です。導電率とシステム誤差(%)の関係キャリブレーションは各ボードで一度だけ実行され、オフセット抵抗が取得されます。これによってマルチプレクサのオン抵抗が分かります。ソフトウェア・システムはこのオフセット抵抗値を保存し、キャリブレーションが再度実行されるまで、この後の導電率測定のすべてにおいて、この値を使用します。