実測定に必要な電場印加のために、セルへの電極導入の技術開発を行った。現在までに、セルに接着部をつくって透明電極を導入、漏えい電流の低減と高真空度シールの実現の目途を得ている(図4)が、今後の課題として漏えい電流のもう一桁の改善と、接着剤由来の不純物がスピン偏極の経年劣化の原因とならないかの確認が残っている。セルの内壁処理法につき進展がみられた。実測定に向けての準備を進める。新旧電流印加システムによる電流安定性(上)とそれぞれを用いた際のメーザー発振安定性(下)。青点・赤点がそれぞれ既存の電流源、新電流源でのデータ。Site岡山大学|お問い合わせ|サイトマップ。