光と電波の境界の周波数であるテラヘルツ(THz)の電磁波を用いた時系列変換パルス分光法の新しい赤外領域の分光装置です。テラヘルツ(THz)の電磁波を用いた時系列変換パルス分光法の新しい赤外領域の分光装置です。Prospectorは、非破壊での製品の内部検査を可能にしました。汎用性を重視し、広い試料室空間を確保することでお客様の様々な目的に応じた付属光学系の導入を実現します。光と電波の境界領域という、今までとは取り扱いが異なる電磁波の帯域を取り扱う新しい分光装置です。電磁波パルスの電場強度の時間波形を計測することで、電場強度と共に位相情報も同時に計測します。リファレンスとサンプルでの時間波形の違いを解析することにより、サンプルの複素誘電率(複素屈折率)の周波数依存性を得ることができます。フェムト秒レーザーを外部から導入することが可能です。フェムト秒レーザーを他の用途にも用いることができるだけでなく、同レーザーの仕様を変更(例えば、10fs以下のパルス幅等)することも容易に対応します。装置部分のみの購入が可能です。透過/反射測定だけでなく、マッピング測定などもオプションユニットを追加することで対応できます。オプション光学系による時間原点の変化は、サブステージにより、容易に補正できます。温度依存性の測定も可能です。計測ソフトは測定手順などを自由に組み合わせて一連の測定を自動で行うことができます。外部プログラムから測定機の制御が可能ですので、他のシステムと組合わせた測定を行うことも可能です。ケーブルのみで接続されるため、簡単に機器を設置することができます。余分なスペースを必要としません。高抵抗シリコンウェーハの測定結果ウェーハの表面で繰り返し反射されたピークが確認できます。得ることができ、これにより各周波数の複素誘電率(複素屈折率)が求められます。複素誘電率の周波数依存性をドルーデ・モデルを用いて解析することで、キャリア濃度・移動度を求めることが出来ます。糖の含有量による吸光度の測定例テラヘルツ吸収スペクトルによる判別例(側鎖の判別)ペリレン誘導体(PTCDI-C5,C8,Ph)の側鎖の違いが、テラヘルツ領域の吸収スペクトルによって観測されます。樹脂を重ねた構造となっています。テラヘルツ測定では樹脂内の部品が透視できます。各軸と入射電場の間の相対関係に依存して、複素屈折率に大きな違いが観測されます。測定など汎用測定ができます。クライオスタットを用いた温度可変計測も可能です。販売形態・オプションについては別途お問い合わせください。本器は、PNP社製テラヘルツ分光機『TeraProspecor』に搭載可能な自動試料ステージです。ステージに取り付けられた試料取り付けプレートに6試料(1か所は、リファレンス測定用に使用します。オプションにて試料数の変更も可能です。)を取り付けることにより、試料カバーを開放することなく連続して試料の測定が可能になります。試料カバーを開放する回数を抑え、測定効率の向上と水蒸気の流入を最小限にとどめます。