Integrated当ウェブサイトを利用することによりクッキーの使用に同意したことになります。多ピン自動試験装置(ATE)の設計/構築/出荷を行う試験機器の企業が多く存在します。これらのテスタは、テスタの各ピンを駆動する複合ICを内蔵しています。1つのテスタは4096個ものピンを持つことができます。図1は、各ピンに、通常はドライバ、コンパレータ、負荷、多くの場合はパラメータ計測ユニット(PMU)も内蔵されることを示しています。これらのエレクトロニクスがケーブルに装着されて、ケーブルはピンに接続されます。コスト削減を維持するために、ベンダーは低品質のケーブルの使用を選択することができます。すべてのケーブル、特に低品質のケーブルは、テスタの最高性能を低減する信号損失の影響を受けます。信号は内部導体(図2参照)の表面に沿って伝搬する傾向があります。これは、表皮効果損失として知られています。この表皮厚さ(δ)は次のように定義されます。ここで、ωは周波数(rad/s)、μは導体の透磁率(H/m)、およびρは導体の抵抗(Ω)です。表皮効果損失によって、単位長さの抵抗Rlおよび単位長さのインダクタンスLlは周波数の2乗根で増加します。単位長さの抵抗は、次のように計算されます。ここで、wは導体の幅です。半径rの円ワイヤの場合、幅は2πrです。リターンパス抵抗も加算する必要がありますが、フォワードパスよりはるかに小さいのが普通で、無視することができます。図2に示された誘電インシュレータも、周波数依存のケーブル損失の一因となります。誘電定数(ε)は次のように定義されます。ここで、ε'は誘電定数の実数部、tanδは虚数部または損失正接(誘電体の損失係数)を表します。jtanδ)に変わります。表皮効果損失と誘電損失を含めると、図3に示すように、単位長さ当りの理想ケーブルモデルを変更してこれらの損失を含めることができます。√ZKとして定義します。ここで、Zは分布直列インピーダンス、Yは分布並列アドミッタンスです。この場合は、次のようになります。テイラー展開近似式を使用し、さらに簡素化することによって、次の項を抽出することができます。ここで、ZOはラインの特性インピーダンス、εrは相対誘電定数、およびcは光速度です。