INS-S220市場トラブルの問題解決にスイッチングデバイスの接点間の放電、電子モーターから発生するアーク放電などによる立ち上がりの早い高周波ノイズを模擬的に発生し、電子機器の耐性を評価する試験器です。試験パルスに含まれている周波数成分の幅が広く、また、パルス幅を可変する事でエネルギー量も変化させることができるため、市場でのノイズトラブルに対して再現性の高いノイズ試験が行えます。高速なパルス繰返し周期での試験が可能になりました。繰返し周期の高速化により、誤動作発生率が向上し、試験時間の短縮が期待できます。パルス幅の設定が簡単になりました。ボタン操作だけでパルス幅の設定が50nsステップで行えるようになり、設定時間の短縮と接続ミスが軽減できます。試験パルス波形の安定性が向上し、再現性の高い試験ができるようになりました。消耗品数を減らしコスト削減ができます。ショートプラグ採用により、コモン/ノーマルモードの切換が容易に設定できます。50Ω系終端器を試験器に内蔵し、容易に配線ができます。アウトレットパネルにより、EUTのACプラグを直接接続できます。各種プローブ、カップリング・アダプタなどにより、様々な試験ができます。重畳ユニットの追加により、EUT電源容量三相5線の試験もできます。(オプション)市場トラブルの問題解決:高周波、エネルギー量変化ができる試験パルスパルス幅が狭い50ns〜100ns程度のインパルスは、エネルギーが小さい代わりに短時間での立上がり/立下がりの計2度の過渡変動による電圧変動、および急峻に発生する電磁界での誘導結合による影響を電子回路に与えます。インパルスはエネルギー量が大きいため、回路へ大きな電圧変動を与えやすくなります。61000-4-4で定められているファスト・トランジェント/バースト試験に比べ立ち上がり時間が高速なため、より周波数成分の高いのが特徴です。このためEUTに対してノイズを印加した際に、より回路内部に侵入しやすく電子回路に影響を与えやすくなります。インパルスのパルス幅により包含する周波数スペクトラムの成分および強度が異なるため、数種類のパルス幅での試験の実施をおすすめします。誤動作発生率の向上:試験にかかる時間を短縮できます試験パルスの繰返し周期を従来品より高速化することで、製品の誤動作発生率が向上し、試験時間の短縮が期待できます。再現性の向上:より定量的な試験ができます従来の水銀リレー方式から半導体リレー方式に変更することで試験パルス波形の安定性が向上し、従来よりも定量的で再現性が高い試験ができます。水銀リレー劣化時に発生する出力波形不良も無くなりました。設定の簡略化:設定にかかる時間を短縮できます従来のパルス幅設定は、専用同軸ケーブルを手動で切り替える煩わしさがありましたが、ボタン操作で設定できるようになり、設定時間の短縮と、接続ミスを軽減します。コストの削減:消耗品の交換を減らしました従来の水銀リレー(消耗品)から半導体リレー方式を採用。パルス幅設定ケーブル(消耗品)が不要となり消耗品の交換にかかるコストを削減しました。接続の簡略化:接続にかかる時間を短縮できますEUTの接続が簡単なアウトレットパネル方式を採用。各国のコンセント形状に応じたアウトレットパネル(オプション)を使用することで、供試品を簡単に接続できます。ノイズ対策が容易:誤動作発生箇所の特定ができます電源線、通信線、ハーネス、筐体から基板レベルまで、さまざまなノイズ印加用のオプション品を多数用意していますので、誤動作発生箇所の特定を容易にします。ノイズ発生回路をフローティングにすることで、配線のわずらわしさを軽減しました。試験の自動化・効率化を実現した高機能ノイズシミュレータです。ノイズ発生回路をフローティングにすることで、配線のわずらわしさを軽減しました。検索オプション無料贈呈中この冊子は、EMCの黎明期から日本及び世界のEMCの発展にご尽力頂いた方々の後世に伝えるメッセージとしてご厚意によりご執筆頂いたものです。ご一読いただければ幸いです。NoiseLaboratoryCo.,Ltd.。