ビデオカメラの撮像エリアと画像処理対象エリアが異なる場合には,上記撮像エリアを画像処理対象エリアに置き換えて算出する(5。)】「粒度頻度データは,まずそれぞれの撮像倍率で撮像された粒子像に対して独立に求める。それぞれの撮像倍率での粒径測定範囲は異なり,例えば図6に示すように,高倍率撮像での粒径測定範囲を1~30μm,低。この例では15~30μmの範囲をオーバーラップさせている(5頁9欄30。)】「図6の例は,粒径が15~30μmの範囲を越えて大きくばらついている粒子の例であり,高倍率撮像と低倍率撮像でのそれぞれの粒度頻度データをつなぎ合わせる必要がある。そのためには,まずそれぞれの撮像倍率での試料分析量の比に応じて,次式のような頻度補正を行う必要がある。低撮像倍率では撮像エリアが広いので,一般的に試料分析量を多くすることができる。像フレーム数)で求めることができる(5頁9欄37行~50行,。)】「上記のような試料分析量の違いによる頻度補正を行っても,必ずしもそれぞれの頻度データによる頻度分布曲線が滑らかにつながらず,つなぎめで段差が生じることがある。その最も大きな原因は,粒子懸濁液の粒子濃度が薄い場合に,撮像された粒子数が少なくて,図6の破線で示すように頻度分布曲線が大きくがたつく場合である(5頁10欄27。)】「他の原因として,対物レンズあるいは投影レンズの倍率が仕様通りの値になっていないために,高倍率撮像と低倍率撮像での真の試料分析量が予測とは異なり,上記試料分析量の違いによる頻度補正が正確でなくなる場合である。この撮像倍率が不正確であることによる段差の原因は,あらかじめ測定装置1台ごとに撮像倍率を校正することによって解決することができる。)】「オーバーラップ測定範囲の上限に近いほど低倍率撮像での頻度値に大きな重みを付け,下限に近いほど高倍率撮像での頻度値に大きな重みを付けて加重平均する。このような加重平均法による頻度補正をすることによって,撮像粒子数が少ない場合でも,異なる撮像倍率での頻度分布データを滑らかにつなぎ合わせることができる。粒子頻度値f(d)は次式で算出する(5頁10欄45行~6頁11欄4行,段落【00。)以上のようにして求められた粒度頻度データを用いて,さらに累積粒度データを求める。個数基準の累積粒度データ(%)は,次式で算出する。】「次に,円相当径と円形度の2つのパラメータによる2次元スキャッタ頻度データを求める(ステップS11。)と低倍率撮像のそれぞれに対して2次元頻度データを求める。次に,粒度頻度データの補正処理と同様に,粒子像の大きさの違いによる頻度補正,異なる撮像倍率での試料分析量の違いによる頻度補正を行う。異なる撮像倍率でのオーバーラップ測定範囲での2次元頻度補正を前記粒度頻度データのつなぎ合わせの時と同様に行う(6頁11欄。)】「以上のようにして求められた頻度データおよび解析結果から,図7,図8に示すような粒度ヒストグラム,円相当径と円形度の2次元スキャッタグラム,および平均粒径や50%径等の解析結果を表示する(ステップS13。)と累積%の2つの意味に割当て,累積粒度分布曲線の表示も同時に表示している。図8に示すスキャッタグラム表示では,横軸をLOG変換した円相当径,縦軸を円形度としており,各分割点(ドット)の色を2次元頻度値に応じて変えるようにしている(6頁11欄34行~43。)】「この装置では,上記のように撮像した粒子像から円相当径や円形度を求めるだけでなく,撮像した粒子像を記憶しておき,測定後に大きさ別にクラス分けして図4に示すように,一括表示する機能も有している。画像を記憶する画像メモリの容量に制限があるので,撮像された全ての粒子像を記憶,表示するわけではない。撮像された粒子像を一括表示できる機能を有しているので,粒子の形態や凝集状態を直接使用者が確認することができる(6頁11欄44行~12欄2行,段落。2個凝集粒子像か3個凝集粒子像か,高次凝集塊か,あるいは対象外の粒子かを,使用者。その指定結果をもとにして凝集している粒子の数の比率を自動的に計算することができる。】「また,上記指定結果をもとにして,一次粒子像だけを対象にして画像解析し直すこともできる。】「また,一括表示された粒子像により,使用者が,測定した粒子が球形であることを確認した場合には,凝集しやすい粒子でも円形度が1に近い粒子だけに限定して粒度解析しなおせば,より正確な粒度分布が求められる。粒子が球形である場合には,図9に示すように,円相当径と円形度による2次元スキャッタグラムにおいて,凝集粒子が分布していると考えられる領域を推定することもできる(6頁12欄19行。)】「図9の例では,点線で囲んだ枠内に分布する粒子は,凝集粒子と推定している。粒径の揃っている球形の粒子が2個凝集あるいは3個凝集した場合の粒子像では,その投影面積は大きく,円相当径は約√2倍あるいは√3倍になり,円形度は0.9以下と小さくなる。】「この装置では,図9の例のように円相当径と円形度による2次元スキャッタグラムにおいてある2次元領域を設定し,その領域内あるいは領域外の粒子のデータだけに限定して粒度解析,円形度解析させることもできる。このような機能を利用することによって,ごみや凝集粒子を除いての粒度分布や平均円形度を求める,あるいは凝集している粒子数の比率を推定するといったことが可能になる。このような2次元領域は,測定する試料の種類ごとに,使用者がキーボード13やマウスを使って任意に設定,変更できる(6頁12欄34行~43行,段落【005。粒子像を使用者が直接目で確認できることはもちろんのこと,従来の電気的検知帯法やレーザ解析散乱法の測定装置では得られなかった定量的な情報,すなわち円形度や凝集度合い等の新規の情報が得られる。円相当径と円形度の2次元スキャッタグラムによって,試料中のごみや凝集粒子の分布領域を推定することができ,その領域内のデータを除外して粒度解析すれば,より正確な粒度分布が求められる(6頁12欄44行~7。発明の効果】この発明は,次のような効果を奏する。(きるので,粒子の形態や凝集状態を容易に確認することができる(7。)】「5.撮像,記憶した粒子像により,粒子が凝集しているかどうかを使用者が目視で識別分類でき,凝集している粒子の比率を求めることができる。粒子像一括表示により粒子が球形であることが確認された場合には凝集しやすい粒子でも,円形度が1に近い粒子のデータだけに限定して粒度解析すれば,より正確な粒度分布が求められる。粒子像一括表示により粒子が球形であることが確認された場合には円相当径と円形度の2次元スキャッタグラムから粒子凝集度合いに関する指標を得ることができる(7頁13欄21行~31行,段落【0。)にあると認められる。】,】明は,2次元スキャッタグラムの「領域」に着目して各種の推定や設定を行うものである。】,】,】,】)形度の2つのパラメータによる2次元スキャッタ頻度データも,粒度頻度データと同様に求めるものとされている(段落【0047。