(特許法102条2項)はない。したものであると認められる。表示手段に表示する図表作成手段を有すると認められる。粒径と円形度の頻度データを,円相当径をX軸とし円形度をY軸として,あらかじめX軸,Y軸を有限の個数(25個)に分割して作った枡目(幅を持った一定の区間)により表示する機能を有していると認められる。本件では,上記機能が,本件発明の構成要件1Gの「粒径と円形度とに対応する2つのパラメータによる2次元スキャッタ頻度データに基づいて2次元スキャッタグラムを作成して表示手段に表示する図表作成手段」に当たるか否かが問題となる。「2次元,スキャッタ頻度データ」の意味について,原告の主張するように明記されてはいないと主張する。」),を平面上に表示したもの。こと甲14などと説明され,これらの文献には,スキャッタグラムの例として,2つのパラメータを縦軸と横軸にとり,データを点で表した図(乙1・図9.1.1,乙2・図43)が挙げられていることが認められる。元座標軸上の1つの点として表示する」ものを意味するものと認められる。本件発明における「スキャッタグラム」がどのような意味を有するものであるかについては,特許請求の範囲の記載からは一義的に明確とはいえない。ないことについては,当事者間に争いがない。(ウ)本件明細書の発明の詳細な説明中には,次の記載が存在する。【記憶,表示するとともに,粒子像を画像解析することによって,粒子の大きさや形状に関する情報を求める粒子画像分析装置に関する(2。【等の粉体の品質を管理する上で,粒子の粒径を測定,管理することは非常に重要である。その測定装置として,古くから液相沈降法,電気的検知帯法(クールター法)による測定装置があり,最近ではレーザ回析散乱法による測定装置が広く使用されている(2頁3欄33行~39。【による測定装置においても,その測定精度(正確度)は,いまだに満足できるものではない。対象とする粒子が偏平であったり細長い形をしている場合には,測定方法の違いによって,求められる粒径は大きく異なることがある。一般的に微小な粒子は測定中に凝集しやすく,その場合にも正確な粒度分布を求めることができない。粒子の球形度(円形度)や凝集度合い等に関する情報を,上記従来の粒度分布測定装置で得ることは困難である(2頁3欄40行~50行,段。【み,細いあるいは偏平な流れに変換し,光照射手段は,変換された懸濁液流に対して光を照射し,撮像手段は,光照射された粒子を撮像する。】「つまり,画像解析手段においては,算出手段が,撮像された各粒子像の面積および周囲長についての粒子データを算出し,そのデータから粒径と円形度を算出し,図表作成手段が,粒径による粒度頻度データに基づいてヒストグラムを作成すると共に,粒径と円形度とに対応する2つのパラメータによる2次元スキャッタ頻度データに基づいて2次元スキャッタグラムを作成してそれらを表示手段に表示する(3頁6欄18。)】「一方,記憶手段は,撮像された各粒子像を格納し,粒子像呼出手段は,記憶手段に格納された各粒子像を表示手段に一括表示する。】「具体的には,粒子懸濁液を透明なフローセルに導き,その懸濁液を細い又は偏平な流れにする。その流れに対して光照射することによって,流れの中の粒子をビデオカメラで撮像する。撮像された各粒子像の投影面積と周囲長を算出し,次に粒径と円形度を算出する。粒径による粒度ヒストグラムおよび粒径と円形度の2次元スキャッタグラムを作成する。】「撮像エリアの面積は,ビデオカメラ10の受光面に対する結像倍率とそのサイズによって決まる。対物レンズ9の倍率を大きくすれば撮像エリアが小さくなるが,小さな粒子まで大きく撮像できる。対物レンズ9の倍率を小さくすれば撮像エリアが大きくなり,大きな粒子を撮像するのに適している。粒径の測定)レンジを広くしている(4頁7欄47行~同頁8欄6行,段落【0。)】「高性能のパイプライン処理可能な画像処理装置を使用すれば,以上の画像処理を,1/30秒ごとに撮像される画面に対してリアルタイムに処理することができる。この装置では,ある倍率で撮像される複数の画面に対して上記画像処理を繰り返し行い,次に異なる撮像倍率に切り換えて撮像し,同様の画像処理を行う。)素数,総エッジ数,斜めエッジ数から,まず下記の式によって各粒子像の投影面積Sと周囲長Lを求める(4頁8欄43行~46行,段落。)】「次に,上記面積Sと周囲長Lを用いて円相当径と円形度を求める(ステ)。