プロファイラーアプリケーションサポート資料請求サポート希望会社所在地ビデオで学ぶ薄膜オンラインミーティングお問い合わせ検索F40シリーズお使いの顕微鏡を膜厚測定システムにF40シリーズは、半導体ICなど最小1ミクロンの微小スポットを測定することが出来ます。顕微鏡のCマウントアダプターに取り付けることで、お手持ちの顕微鏡で膜厚を測定することが出来ます。観察用ビデオカメラを内蔵しており、パソコンの画面上で測定箇所を確認し膜厚と屈折率の測定が可能です。無断複写・転載を禁じます。(月-金まで24時間営業)当サイトをご利用されることにより、当社の最新のプライバシーポリシーとクッキーポリシーに同意することになります。