プロファイラーアプリケーションサポート資料請求サポート希望会社所在地ビデオで学ぶ薄膜オンラインミーティングお問い合わせ検索F3-CSF3-CSシステムは微小視野および微小試料測定用途に応じて、開発された機種です。USBバスパワー設計で、誰でもパリレンと真空コーティングを簡単に測定することが出来ます。ハンズフリー測定モードで、サンプルを下向きでステージに置くことだけで膜厚測定を行えます。透明・不透明の基材を問わず、その上に成膜された数百種類の材料の膜厚測定に必要な能力を全て揃えます。高速な膜厚測定ソフトウェアをアップグレードすることで、膜厚測定を簡単に行えます。全ての誘電体層(パリレンC、N、HT含み)と半導体膜の屈折率、消衰係数データ(nとk)が用意されており、厚み測定結果は直感的で分かりやすく表示されること、膜厚と光学定数の同時測定もできます。64-bitまでのコンピューター作業環境が対応可能で、電源供給と通信ともにUSBケーブルでサポートします。無断複写・転載を禁じます。(月-金まで24時間営業)当サイトをご利用されることにより、当社の最新のプライバシーポリシーとクッキーポリシーに同意することになります。