短時間で多数のサイクルを捕捉/解析する処理能力がもたらす高い信頼性の試験DDR3信号の試験では非常に多様な計測を行わなければならないだけでなく、非常に多数のサイクルに渡る信号を対象にしなければなりません。した大量のデータ処理を短時間で行うことができると、捕らえた測定値のワーストケースの信頼性が高くなります。多くの場合、QPHY-DDR3は、他の計測ソリューションが100個の計測を行う間に数千の計測を処理することができます。このことは、時間をかけて何度も繰り返し計測を行うのと同じ信頼性を1回の計測で済んでしまうことを意味し、大きな省力化につながります。Test"機能を使うと、各試験が終わる度に試験の実行を中断します。その時点で、ソフトウェアが計測設定条件の保存を指示するので、設定条件を保存すれば、不良原因を探るために、オシロスコープの解析機能を使って自由にデバッグすることができます。この機能にはSDAIIシリアル・データ解析機能、EyeDoctorIIシグナル・インテグリティ・ツール、WaveScan波形検索機能、ヒストグラムやトラックなどの統計解析機能などが利用できます。これらの解析機能を使うと、不良とその不良と相関のある現象を簡単に見つけることができます。デバッグ作業が終了すると、”OK"ボタンを押すことで、試験の実行を継続して行うことができます。クロック試験JEDEC仕様書によって規定された全てのクロック試験を実行します。periodが含まれています。電気試験ここで示した試験は、SRQ試験で、データ、ストローブおよびクロック信号のスリュー・レイトを計測します。2Mポイントの信号が捕捉され、その中の全てのリード・バーストが特定されます。その中で全ての立ち上がりエッジが計測されます。この例では9,000個以上のスリュー・レイトの計測が行われました。上の画面のように、ワーストケースの画面が表示されます。Test"機能を使って、原因を究明するさらなる解析を行うことができます。タイミング試験ここで示した試験は、tDQSCK試験で、クロックからストローブ出力のアクセス・タイムを計測します。電気試験と同様に2Mポイントの信号捕捉を行い、リード・バーストが特定されます。その中の全てのストローブとクロックの時間差が計測されます。この例では、10,000個のtDQSCKが計測されました。上の画面のように、ワーストケースの画面が表示されます。1本プローブを使って、不良原因と疑われる信号を捕捉するのもデバッグではよい方法です。アイパターンアイパターンは、シリアル・データ信号のデバッグにおいて非常に強力なツールです。QPHY-DDR3では、アイパターンをリード・バースト、またはライト・バーストから描画することができるので、データ信号にレシーバがエラーなく読み取れるのに必要なシグナル・インテグリティがあるかどうかを確認することができます。データ信号とストローブ信号のアイパターンを同じタイミングで表示させて、ストローブのタイミングを検証することができます。新しく独自の試験項目のセットを作ることも、セットされた試験項目を制限することもできます。グラフィカルな結線図は、その試験に必要な装置の接続などを指示します。その試験の評価基準と、試験を実行したときの画面情報を含みます。コンプライアンス・レポートは、HTML、PDFまたはXMLとして作成することができます。QualiPHYQualiPHYは、高速シリアル・バスでコンプライアンス試験を専門知識がなくとも、短時間で簡潔に実行できるように設計されています。ウィザード機能により、テスト手順をナビゲートします。規定された手順に従って各々の測定を行います。全ての測定結果をまとめてレポートを作成しますQualiPHYなら、いつでも正しい方法で試験が実行できます。Technologies。