東京都Japanhttp://www.nanoscience.co.jp/小間番号7501弊社は、半導体の研究開発や故障解析で用いる表面分析の受託サービスを行っています。お気軽にお立寄りください。)の受託サービスをご提供しています。弊社は独自の分析技術の開発し、自社で市販の分析装置を発展させ、特長のある受託分析サービスを行っています。今年は弊社(旧EAG社)が得意とするSiC&GaNパワーデバイス、LEDデバイスの表面分析事例を中心にご紹介いたします。用いて受託分析サービスを行っています。通常の分析装置では分析が難しい材料(セラミックス材料や絶縁材料)を高感度に不純物を測定できます。