技術講演会6月1日(水)建築会館(東京/田町)にて、当社主催の技術講演会を開催いたしました。本年もたくさんのお客様にご来場いただきました。満席となった会場では、多くのご参加者が熱心にメモを取りながら講演に聞き入り、質疑応答も積極的に交わされるなど、盛況の内に終了いたしました。それでは、当日の様子をレポートいたします。ついて、それぞれの実データを示しながら詳しく紹介いたしました。オプションを用いることで、化学構造に関する情報取得やピーク同定が容易になります。今回は、材料の帰属も可能になる応用例を含めてご紹介いたしました。続いて午後からは、各方面でご活躍されている先生方より、表面分析の発展の歴史や現在の評価技術の実例、更に最新の研究成果まで、幅広く興味深い内容をお話しいただきました。今回の講演をご快諾下さった4名の先生方に改めて深く御礼申し上げます。塩沢様からは、X線光電子分光法における非単色化X線源から単色化X線源への推移の歴史と、それに伴う試料の不均一帯電とその緩和法についてお話いただきました。集光型の単色化X線源では、試料ダメージは低減されるもののスポット照射特有の不均一な帯電が生じるため、その緩和には負電荷供給だけでは不十分であり、正電荷(アルゴンイオン)を付与することで解消されることを、ご自身の分析経験を交えてご紹介いただきました。HAXPESにおける帯電緩和についてもご期待を寄せていただくなど、装置の基本に戻って帯電緩和のメカニズムについて改めて考えさせられるご講演でした。「発展する技術に追随し、適切な活用方法を検討することで、常に顧客要求にベストマッチの課題解決方法を提案していきたい」と話す、コベルコ科研の稲葉様からは、電池材料の評価事例についてご紹介いただきました。大気非暴露により試料の変質を低減させた表面皮膜の定性分析、ガスクラスターイオン銃(GCIB)による有機成分の変質を抑えた深さ方向分析、HAXPESによる正極活物質の非破壊での価数評価及びSi負極の詳細解析など、材料や目的に応じて適切な手法を選択することがいかに重要かという観点でお話しいただきました。ワンストップで高精度な評価を行うことで、時代の変化とお客様のニーズに応えるという大変興味深いご講演でした。理研CEMS・JSTさきがけの但馬様からは、近年多方面に応用されている有機半導体デバイスについて、最新の研究成果をご紹介頂きました。求められる特性を満たすためには、界面の構造を精密に制御することが非常に重要であることを背景としてお話頂いたあとで、分子配向を制御した単分子膜の機能表面を界面に取り付ける画期的な手法をご紹介頂きました。UPSによるイオン化ポテンシャルの計測など、有機デバイス材料に対する表面分析の応用例をご紹介頂きました。表面分析装置によって分子レベルで制御された界面構造の評価を行うという、大変興味深いご講演でした。藤田様から、表面分析のオペランド計測への展開についてお話をいただきました。状態密度分布を観察した例や、リチウム電池電極の電位分布を充電状態と放電状態で比較した例を紹介いただきました。表面分析の新たな方向性を指し示していただいたご講演でした。クラブ・ファイ会員向けコンテンツクラブ・ファイに会員登録された方は、各種資料をダウンロードいただけます。(会員種別により閲覧できる内容に制限がございます)以下の発表資料は「装置ユーザー会員様」限定で公開しております。KB)上記以外にも当社発表資料を公開しております。詳しくはこちらのリンクを参照ください。ダウンロードには、会員登録が必要です。お手数ですが、こちらから会員登録をお願いいたします。新規会員登録イベントトップへイベントイベントレポート2020年2019年2018年2017年2016年2015年2014年クラブ・ファイへ会員登録後、ソフトウェアアップデートファイルやカタログなどのダウンロードができます。ログイン新規会員登録お問い合わせ資料請求やお見積もり、修理・メンテナンスなどについても、お気軽にお問い合わせください。ELECTRONICS。