株式会社チノーはあらゆる産業の温度管理のエキスパートです。9:00~12:00/13:00~17:00カタログのご請求お問い合わせフォーム株式会社チノーはあらゆる産業の温度管理のエキスパートです。IRMS8599SIRMS8599Sは測定対象の薄膜に投光し、表面反射光と裏面反射光による干渉から膜厚を測定します。膜厚が厚くなるほど、反射率スペクトルに現れる波(干渉波)の数が増加する原理を利用して膜厚を計測します。検量線が不要で、高精度な計測が行えます。