デバイス関連感染(DRI)は、心臓植え込み型電気デバイス(CIED)を使用した治療において深刻な合併症である。DRIの発生率や危険因子についてはこれまで複数の報告があるが、それぞれDRIの定義や検討した手術およびデバイスの種類が異なることに加え、長期にわたって追跡したデータもほとんどなかった。Olsen氏らは、約10万例のCIED植え込み例におけるDRI発生率を検討する大規模研究を実施。J(2019;40:1862-1869)に報告した。