Enlargeハイパワー偏光ビームスプリッターキューブの図面。キューブ上部には、型番と推奨光路のうちの1つが刻印されています。0.7タップ穴、インチ規格の製品には#8-32タップ穴がそれぞれ1つ付いています。Detailsマウントには、型番と推奨光路のうちの1つが刻印されています。mmのケージシステムに取付け可能なSM1ネジポート付き筺体に納められたハイパワー偏光ビームスプリッターキューブをご用意しています。このキューブは、誘電体ビームスプリッターコーティングでS偏光成分を反射させ、かつP偏光成分を透過させることで、それぞれの偏光成分を分離します。最大の偏光消光比が必要な場合は、Tp:Ts>2000:1の消光比を有する透過光をご使用ください。nm)のうちのいずれかの波長に対応しています。仕様の詳細については「仕様」タブをご参照ください。こちらのビームスプリッタはエポキシ接着ではなく、オプティカルコンタクトによって接合しているので、吸収や分散による損失はわずかです。オプティカルコンタクトが可能な平面度になるまで斜面を研磨することにより、高い透過率と最小のビーム変位を実現する小型で熱安定性に優れたビームスプリッターキューブの製造が可能となります。オプティカルコンタクトを行う前に、2つの斜面のうちの1面にのみビームスプリッターコーティングを施しています。光をどの面に入射してもS偏光成分とP偏光成分を分離することは可能です。各部品には、型番と推奨光路を示す矢印が刻印されています(上の図参照)。このケージキューブマウント付き偏光ビームスプリッタには4つのSM1ネジ付きポートがあり、底部にあるM4(もしくは#8-32)タップ穴を使用してポストに取り付けることができます。mm(Ø1/2インチ)回転マウントは別売りとなっています。コネクタCM1-CC、またはケージロッドとアダプタERSCBを使用して他のケージキューブを筐体に接続することも可能です。ビームスプリッターキューブはそれぞれケージキューブに接着剤で固定されているため、マウントから取り外すことはできません。mmケージキューブもご用意しています。当社のキューブマウント付き光学素子のラインナップについては、「マウント付き光学素子ガイド」タブをご覧ください。mm)これは認証用の測定です。光学素子に損傷を与えずに、レーザの最大パワーは無損傷で到達します。ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。このパワー密度の単位(単位長さあたりのパワー)が長パルスおよびCW光源において最も適した測定基準である理由については、「損傷閾値」タブをご参照ください。0.7基板の仕様の詳細についてはリンクをクリックしてご覧ください。消光比(ER)は、評価する上で十分な偏光比を有する直線偏光を入射したときに得られる、最大透過率の最小透過率に対する比率です。偏光子の透過軸に対して入射光の偏光方向が平行のときに最大透過率、そこから偏光子を90°回転させると最小透過率が得られます。波面誤差は透過光と反射光の両方の数値。透過率および反射率のデータこちらのタブでは当社のハイパワー偏光ビームスプリッターキューブの典型的な透過率のグラフと、キューブ表面に施されているARコーティングの反射率のグラフをご覧いただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはHereからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。直線偏光の分岐比および透過強度を連続的に可変できる可変ビームスプリッタ/減衰器を下記の波長用にご用意しております。下記以外の波長、またはさらに高出力での使用をご検討の場合は、当社のマウント付きハイパワービームスプリッターキューブ、1/2波長板、ならびに回転マウントCRM05を使用してお客様ご自身で可変減衰器を構築することができます。動作1/2波長板を通ってビームスプリッタ/減衰器に入射する直線偏光は、1/2波長板のファスト軸から入射偏光ビームまでの角度の2倍回転します。ビームスプリッターキューブに入射された光はP偏光とS偏光状態に分離します。P偏光はキューブ内をまっすぐに通ります。S偏光は90°反射し、キューブの側面から出射します。ビームスプリッターキューブのP:Sの偏光比率は、1/2波長板のファスト軸の角度を変更することにより連続的に可変することができます。入射ビームがP偏光であれば、可変ビームスプリッタ/減衰器を透過した光の偏光状態もP偏光となります。P偏光を入射する場合、最大透過率が得られるのは、ファスト軸がビームの偏光にアライメントされるときです。波長板のファスト軸が入射ビームに対して45°の場合、光が90°回転してS偏光となり、ビームスプリッターキューブの側面方向に反射されるので、透過率は最小になります。mm(Ø1/2インチ)用波長板WPMH05M-405、そして回転マウントCRM05を使用しています。ビームスプリッターキューブと波長板を選ぶ際には両方が同じ波長用に最適化されていることと、損傷閾値が用途に適していることをご確認ください。1.まず1/2波長板(素子)をマウントから取り外してください。波長板を保持している固定リングSM05RRは、スパナレンチSPW603を使用して緩めることができます。波長板の縁部分はファスト軸を示すため平坦に削られています。2.付属の固定リングSM05RRを用いて波長板をCRM05に取り付けます。CRM05に刻印されている角度が波長板のファスト軸のアライメントに利用されます。3.組立て終わったアセンブリを偏光ビームスプリッターキューブの入射部にねじ込んでください。これで可変ビームスプリッタ/減衰器は使用可能となります。波長板の平坦な縁部分により、ファスト軸が分かります。mm(Ø1/2インチ)用波長板を回転マウントCRM05に固定します。回転マウントをビームスプリッターキューブのSM1ネジ付き開口部にねじ込めば、可変減衰器の完成です。mmケージキューブ付き光学素子全製品のリンクがございます。mmケージシステムガイドをご覧ください。mm)この損傷閾値は、様々な因子を考慮して実測した損傷閾値よりも低めに設定されております。実際にはこの損傷閾値のレーザ出力であれば光学素子は損傷を受けません。ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。このパワー密度の単位(単位長さあたりのパワー)が長パルスおよびCW光源において最も適した測定基準である理由については、下記の「CWレーザと長パルスレーザ」をご覧ください。右の仕様は当社のハイパワー偏光ビームスプリッターキューブの測定値です。レーザによる損傷閾値についてこのチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。:LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。21254に準拠しています。初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。