Japanese)陽電子の物質中における寿命を測定することによって、金属,半導体等の結晶中の空孔や各種の点欠陥に関する情報が得られる。高分子等の絶縁物中ではサブナノからナノスケールの空隙の情報が得られる。おいては、陽電子が物質中の電子と反応して対消滅によって消滅する際の約511keVのエネルギーのγ線を測定することによって、陽電子が消滅したタイミングが認識される。この寿命を計測するための開始タイミングは、陽電子が物質に入射した時点となる。おいては、陽電子源として22Naが用いられ、22Naの原子核がβ+崩壊する際に発生する陽電子が測定に用いられる。陽電子源は試料となる物質と接して設けられるため、陽電子が物質に入射したタイミングは、22Na内において原子核がβ+崩壊によって発生したタイミングとみなすことができる。このβ+崩壊に際しては、陽電子と同時に1.27MeVのエネルギーのγ線が発生するため、このγ線を計測したタイミングが、前記の寿命計測の開始タイミングとされる。一般的な構成については、例えば非特許文献1に記載されている。900の概要を簡略化して示す図である。ここでは、小さな試料Sの中に前記のような陽電子源が設置されているものとする。このため、上記のような2種類のγ線は小さな試料Sから発せられる。スタート信号用γ線γ1を検出するためのγ線検出器(スタート用検出器91)と、ストップ信号用γ線γ2を検出するためのγ線検出器(ストップ用検出器92)が用いられる。どちらのγ線検出器においても、シンチレータと光電子増倍管を組み合わせたものが用いられる。この場合、γ線がシンチレータに入射することによって発生した光パルスを光電子増倍管が検出することによって、1個のγ線光子が入射する度にパルス出力が得られる。このパルス出力のパルス高によってγ線のエネルギーが認識できるため、上記のような2種類のγ線の識別が可能であり、波高による弁別を行うことによって、スタート用検出器91がスタート信号用γ線γ1のみを検知し、ストップ用検出器92がストップ信号用γ線γ2のみを検知するような設定とすることができる。このため、図16に示されるように、スタート用検出器91におけるパルス出力P0の直後でストップ用検出器92におけるパルス出力P1が検出される。ここで、パルス出力P1のパルス出力P0からの遅延時間が陽電子の寿命に対応するが、この時間差は実際には非常に小さく、より長いタイムスケールで見た場合には、パルス出力P1とパルス出力P0はほぼ同時であると認識することができる。このため、図16の構成においては、一致検出回路93によってこれらの同時性が認識された場合に、パルス出力P0、パルス出力P1は単一の陽電子発生・消滅イベントに対応していると推定される。このため、一致検出回路93は、これらの同時性が認識された場合にデジタルオシロスコープ94にトリガ信号を発し、デジタルオシロスコープ94がトリガ信号を受信することによって、パルス出力P0、P1がデジタルオシロスコープ94に取り込まれる。ここで、デジタルオシロスコープの代わりに、以下に説明する機能を同様に実現できるデジタイザ等の計測機器を用いることもできる。この際、この測定を容易とするためにパルス出力P1に対して遅延回路95によって一定の遅延時間が付与され、デジタルオシロスコープ94においては、図16に示されるように、パルス出力P0、P1の実際の検出時間の時間差Δtが計測される。一致検出回路93によって同時性が認識されたパルス出力P0、P1が得られる毎にこの測定が行われる。パルス出力P1のパルス出力P0からの遅延時間が陽電子の寿命に対応するが、統計的ゆらぎにより、実際にはこの遅延時間は測定毎に変動する。実際にはスタート用検出器91、ストップ用検出器92においては、スタート信号用γ線γ1、ストップ信号用γ線γ2とは異なる放射線成分(バックグラウンド成分等)やノイズ成分も多く検出されるが、その中から、上記のように同時性が認識されたパルス出力P0、P1のみが有効な成分となる。寄与する成分は実際には非常に少ない。このため、上記のように同時性が認識されたパルス出力P0、P1が得られる度にΔtを計測し、デジタルオシロスコープ94と接続されたPC(パーソナルコンピュータ)96は、図16に示されるように、測定されたΔtのヒストグラムを生成し、このヒストグラムから、周知の統計的手法によって、陽電子消滅寿命の平均値やそのばらつきを認識することができる。この場合、統計的誤差を小さくして陽電子消滅寿命の測定精度を高めるためには、このヒストグラムにおけるイベント数を多くすることが必要であるため、スタート用検出器91、ストップ用検出器92でのカウント数(サンプル数)を多くすることが有効であり、このためには、測定時間を十分に長くとることが必要となる。実際にこのために要求される測定時間は、例えば4時間以上と長くなった。おいて、十分な測定精度を確保するためには、十分なサンプル数を得るために長い測定時間を要した。このため、図16の構成において陽電子消滅寿命を高精度で計測することは実際には容易ではない。した点を改善するための技術は、例えば特許文献1に記載されている。ここで記載された構成においては、上記のΔtの測定精度を高めるために、スタート用検出器91、ストップ用検出器92の出力のパルス波形がそれぞれデジタル処理された。有効なγ線を効率的に検出してサンプル数を十分に確保するために、特許文献1には、試料の周囲に多く(3つ以上)のγ線検出器を配置することも記載されている。この構成によって、陽電子の発生・消滅に際して発せられるγ線の検出効率を高め、認識される陽電子の発生・消滅のイベント数を多くすることができる。910の構成を図16に対応させて図17に示す。この場合には、同一仕様のスタート用検出器91A、91Bが用いられ、これらのパルス出力P0A、P0Bが共に一致検出回路93、デジタルオシロスコープ94に入力する。この場合には、パルス出力P0Aとパルス出力P1との同時性、パルス出力P0Bとパルス出力P1との同時性が認識され、パルス出力P1と、これと同時性が認識されたパルス出力P0A又はP0Bがデジタルオシロスコープ94に取り込まれ、前記と同様に、Δtが算出され、そのヒストグラムを用いてPC96で寿命が算出される。図17の例ではスタート用検出器が2つ用いられたが、3つ以上を用いることによって陽電子発生の際のγ線の検出効率を更に高めることもできる。スタート用検出器を複数用いる代わりにストップ用検出器を複数用いることによって、陽電子消滅の際のγ線の検出効率を高め、認識される陽電子の発生・消滅のイベント数を同様に増やすこともできる。スタート用検出器やストップ用検出器を大きくしてそれぞれの検出可能な空間範囲を広げ、同様に検出効率を高めることもできる。した構成によって、短い測定時間で高精度で陽電子消滅寿命を測定することができると期待される。対消滅で発せられるストップ信号用γ線γ2のエネルギースペクトルにおける約511keVの周りの広がり(ドップラー広がり)は、陽電子と反応して対消滅した電子の運動量を反映するため、この広がりを測定することによって、試料Sとなった物質中の電子についての情報が得られる。AMOC測定においては、前記のようなタイミングの検出のためにのみ用いられるスタート用検出器、ストップ用検出器(共にシンチレータ+光電子増倍管)と共に、時間分解能はこれよりも劣るが高いエネルギー分解能でγ線のエネルギースペクトルを高精度で測定することができるスペクトル測定用検出器(半導体検出器)が用いられる。このため、AMOC測定においては、3系統でγ線が検出される。一般的に、陽電子の対消滅の際にはほぼ逆向きに2つの光子が発せられるため、この半導体検出器は、試料に対してストップ用検出器とは逆の位置に設置される。図16、17のような単純な陽電子消滅寿命の測定のためには、スタート用検出器91、ストップ用検出器92の2系統における検出の同時性が要求されたが、AMOC測定の場合には、上記に加えて更にスペクトル測定用検出器が加わった3系統での検出の同時性が要求される。このため、AMOC測定においては特に検出効率が低くなり、更に長い測定時間が要求され、実際には、一つの測定に1週間以上を要する場合もあった。このため、図17の構成のように、同一の用途(スタート用、ストップ用)で複数の検出器を用いて検出効率を高めることができれば、AMOC測定においては特に有効である。複数の放射線検出器を同時に用いて放射線の計測を行う際の放射線計測器の調整方法に関する。複数の放射線検出器が同時に用いられる放射線計測器に関する。複数の前記放射線検出器は測定対象を囲む環状に配置されたことを特徴とする請求項13に記載の放射線計測器。Japanese)ライセンスをご希望の方、特許の内容に興味を持たれた方は、下記問合せ先にご相談下さい。