持ち運び可能なTRITOPシステムは、測定対象物の3D座標を光学的に素早く測定します。Machine従来からの接触式CMM測定要件は、TRITOPシステムを使うことで置き換えることができます。軽量で複雑なメンテナンスを必要としない為、モバイル測定が可能です。接触式の座標測定機同様にTRITOPシステムはどのような形状も座標とベクトルを測定する事ができます。analysisTRITOPの測定データはデータ同士で比較することができるため、加熱や荷重などの変形試験前後での変位量、変位方向を簡単に求めることができます。ソフトウェア」ですべて行うことが可能です。同一メーカーが開発するソフトウェアにより、ハードウェアの能力を最大限に活用し、高精度な測定と効率的な評価を実現します。き取り品など)大型品の品質管理(航空機、船、風車など)射出成型品の検証(初回品検査など)治具の検証と記録モデル品・試作品の測定(自動車のインテリアやエクステリアのデザインなど)恒温試験での変形解析TRITOPテクニカルデータ※TRITOPシステムを使用することで、最大20mほどの大きさまで測定することができます。お客様の測定要件に応じて、いくつかのシステム構成をご提案させて頂きます。専用ノートPCTRITOPソフトウェアマーカーペン以下のようなお悩み・ご要望について、お気軽にお問い合わせください。