nm)用をご用意しており、その分岐比はいずれも50:50です。ビームスプリッタのコーティングは入射角45°に対して最適化されています。mm(Ø2インチ)の4種類をご用意しております。このプレート型ビームスプリッタはUVグレード溶融石英から加工されており、UV域までの高い透過率と均一性を有し、またN-BK7に比べて小さな熱膨張係数を有しています。加えて、UV溶融石英(UVFS)にはレーザ誘起蛍光がほとんど見られず(193nmで測定)、従ってUVから近赤外域の用途に適しています。光学素子の前面および裏面の反射光によって生じる不要な干渉の影響(ゴースト像など)を減少させるために、すべてのプレート型ビームスプリッタの裏面にはARコーティングが施されています。このコーティングは前面のビームスプリッターコーティングと同じ波長用に設計されています。コーティングされていない基板に45°で光を入射すると約4%の光が反射しますが、ビームスプリッタの裏面にARコーティングを施すと、この反射率はコーティングの設計波長において平均で0.5%以下にまで減少します。arcminのウェッジが付いています。これにより、前述のARコーティングで防止しきれずに残った反射光も分離されます。円形のプレート型ビームスプリッタには、型番のほかARコーティングとウェッジの付いた面を示す矢印が刻印されています(下記の青いInfoアイコン内の「Drawings」タブで図をご覧いただけます)。顕微鏡フィルターキューブへの取付け用に設計された長方形のビームスプリッタでは、ビームスプリッターコーティング側に型番が刻印されているので前面と裏面の識別が容易です。当社では、偏光無依存型ビームスプリッターキューブ(マウント付きおよびマウント無し)、ペリクルビームスプリッタ(マウント付きおよびマウント無し)、プレート型ビームスプリッタ(下記およびセレクションガイドを参照)の3タイプの偏光無依存型ビームスプリッタをご用意しています。すべてのビームスプリッタのラインナップについては、上の「BSセレクションガイド」のタブをクリックしてご覧ください。Enlarge生データはこちらをご覧ください。mm、コーティング無しのUV溶融石英(UVFS)の試料を用いて取得したもので、光が表面に対して垂直に入射した時のデータです。この透過率には表面反射の影響が含まれています。μmの生データはこちらをご覧ください。μmの生データはこちらをご覧ください。nm用にコーティングされた50:50プレート型ビームスプリッタの透過率(左)と反射率(右)です。データは入射角45°で取得しました。こちらは典型値で、コーティングのロットにより若干の変動があります。μmの生データはこちらをご覧ください。μmの生データはこちらをご覧ください。nm用にコーティングされた50:50プレート型ビームスプリッタの透過率(左)と反射率(右)です。データは入射角45°で取得しました。こちらは典型値で、コーティングのロットにより若干の変動があります。mm)当社のUV溶融石英プレート型ビームスプリッタの損傷閾値データ右の仕様は当社のレーザーラインプレート型ビームスプリッタの測定値です。nmコーティング付きレーザーラインスプリッタで同じです。レーザによる損傷閾値についてこのチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。:LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。21254に準拠しています。初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。