概要SPring-8でX線CT計測の経験があまりなく、手持ちの試料のテスト撮影を希望する方たちのために、CT計測見学会を行います。SPring-8のCT計測では、0.1ミクロンから数cmまでの広い空間領域の計測が可能ですが、分解能に応じて適切なビームラインを選択する必要があります。第4回目は、BL28B2で高エネルギ-の撮影を対象とします。本見学会では、試料のテスト撮影だけでなく、CTの原理?撮影装置?画像再構成法に関する講義とビームライン見学を行い、試料の準備から研究課題の申請までをお手伝いします。試料条件:試料サイズ直径13mm程度まで。画素サイズ約4um、X線エネルギー200keV、視野16mm程度、縦は約1mm。エネルギーは固定です。試料のX線透過率が10%以上となるようにしてください。高強度X線を照射することになるため、試料はX線損傷(溶融?分解等)を受けることがあります。試料の準備方法は申し込み後、担当者とご相談ください。データ処理方法などの説明を行います。計測および画像再構成はスタッフが行います。(1グループ3名以内)※1グループでも実施します。持込み試料について組成?形態?数量等について正確にご記入下さい。申込者多数の場合の判断基準となります。申込者多数の場合は、当方での調整に一任願います。調整後、全ての申込者に参加の可否について連絡致します。申込順ではありませんのでご注意下さい。(早めにお申し込み頂いた場合でもご参加頂けない場合があります。試料計測なしの参加も可能です。他参加者の目にふれても構わないもの※測定は、室温?大気中で行います。※試料については、必ず見学会の前にご相談ください。※データ持ち帰り用に、SSDもしくはHDD(USB3.0接続、空き容量64GB以上)を持参して下さい。見学会への参加は無料です。見学会参加者への旅費支給等はありません。SPing-8研究交流施設はご利用になれません。申込方法:参加申込は締め切りました。