当社の反射型ビームエキスパンダは予めアライメントされた保護膜付き銀コーティングミラー2つを使用して2倍、4倍、6倍にビームを拡大または縮小します。透過型ビームエキスパンダとは異なり、反射型ビームエキスパンダは事実上ゼロ色収差の性能を発揮するので(左下のグラフをご覧ください)、特に広帯域光源やフェムト秒パルスレーザに適しています。96%)、透過光学素子による位相遅延ならびに吸収損失を最小に抑え、またλ/10の低い波面誤差をもたらします(詳細は「仕様」のタブをご覧ください)。反射型ビームエキスパンダの特に有益な使用例の1つとして、多色光のビーム径を小さくすることで効率的に反射型コリメータに入力し、光をマルチモードファイバに結合することが挙げられます。SM30アライメントを容易にするため、各ビームエキスパンダの入射ならびに出射ポートにはSM05、SM1、またはSM30ネジ切り加工がされていて当社のSMネジ付きのレンズチューブが取り付け可能です。mmケージシステムにも取り付け可能です。各ビームエキスパンダが対応するSMネジとケージシステムについては左の表をご覧ください。ビームエキスパンダを光学テーブルに固定する際には、テーブルクランプCL2、CL3、CL6を2つ使用してください。筐体の縁でテーブル面に固定します。mm台座付きピラーポストと組み合わせてビームエキスパンダの位置を高くしたりできます。mm(Ø1/2インチ)ポストに取付けることができます。当社では可変式または固定式ズーム付きのガリレイ式ビームエキスパンダなど多様なビームエキスパンダを取り揃えています。スライド式調整機構と回転式調整機構からお選びいただけます。詳細は「ビームエキスパンダ」のタブをご参照ください。Enlarge上のグラフは、反射型設計のBE02R/Mの色収差が非常に小さいことを示しています。縦軸のDiopter(ディオプトリ)は、焦点距離の逆数として定義された測定単位です。Enlarge保護膜付き銀コーティングのエクセル形式のデータ上のグラフは、無偏光ビームの面当たりの反射率を示しています。青い網掛け部分は、ビームエキスパンダの推奨使用範囲です。Enlarge保護膜付き銀コーティングのエクセル形式の生データはこちらからダウンロードできます。上グラフは、面あたりの反射率を示しています。網掛け部分は、推奨使用範囲です。mm)ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。線形パワー密度が長パルスおよびCW光源において最も適した測定基準である理由については、下記の「CWレーザと長パルスレーザ」をご覧ください。当社の保護膜付き銀コーティングミラーの損傷閾値データ右の仕様は、当社の反射型ビームエキスパンダに使用される保護膜付き銀コーティングミラーのの測定値です。損傷閾値の仕様は、コーティングの種類が同じであればミラーのサイズにかかわらず全て同じです。レーザによる損傷閾値についてこのチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。:LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。21254に準拠しています。初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。