Polished)リンクをクリックすると基板の仕様がご覧になれます。mm当社の金属コーティング凹面シリンドリカルミラーは、1次元方向のみに光を集光するように設計されています。これらの反射光学素子では、色収差を発生させることなく集光できるため、広帯域光源に特に適しています。負分散効果を示さないため、広帯域光源とともにお使いいただく場合は、ライン生成、ビーム拡散、または1次元方向のみのビーム拡大などの使用方法において、シリンドリカルレンズよりも優れています。mmまでのり5種類の焦点距離からお選びいただけます。ミラーはUV域強化アルミニウム、アルミニウム、または銀で保護コーティングされています。それぞれの金属コーティングについての詳細は下記の表をご覧ください。これらのミラーは、円筒対称(上記写真参照)形状なので、ミラーの厚さは焦点距離によって異なります(下記図面参照)。この光学素子でカスタム仕様をご希望の場合は当社にご相談ください。当社では、球面対称で光を集光する凹球面ミラーもご提供しております。Idea"は、シリンドリカルミラーの取付けオプションのご紹介です。アダプタSM1P1は、このページでご紹介している光学素子をSM1対応マウントに取り付けるのに適しています。SM1P1は、光学素子を3つの接触点でしっかりと保持し、前面飛び出すように取り付ける設計になっています。これにより、光学素子は安定し、開口全面を利用することができます。上の写真に掲載されているキネマティック回転マウントKS1RSは、360°回転および角度調整が可能で、シリンドリカルミラーとの併用に適しています。高い精度が必要な場合は、6軸キネマティックマウントK6XSもこのアダプタSM1P1とともにお使いいただけます。取扱いについて銀コーティング付きミラーは、環境や不適切な取り扱いによって損傷しやすいため、特にご注意いただく必要があります。指紋の付着、研磨性のある面との接触、高湿/高温の環境などにより、保護膜の効果が損なわれ、銀コーティングの酸化や劣化が起きやすくなります。銀ミラーを取り扱う際は、通常の光学素子の取扱い方法に従ってください。光学素子の表面に指の油分などが付着するのを防ぐために、Latex製手袋などの着用をお勧めします。した対策を講じたうえで、ミラー面やエッジには触れないようにご注意ください。銀ミラーは、室温で、できるだけ湿度の低い場所で使用/保管を行ってください。ミラーなどの光学素子のクリーニング法については、「光学素子の取扱いについてのチュートリアル」をご参照ください。mmビームのパワー密度はW/cmの単位で計算してください。このパワー密度の単位(単位長さあたりのパワー)が長パルスおよびCW光源に対して最も適した測定量である理由については、「損傷閾値」タブをご参照ください。図中のteはエッジ厚(ミラーの最大厚さ)を、tcは中心厚さ(ミラーの最少厚さ)を示しています。下記グラフの青い網掛け部分は、このミラーをご使用になる際の推奨する波長範囲を示しています。この帯域の外側(特に反射率のグラフに変動や傾斜がみられる範囲)は品質管理の面で厳密に測定されたものではなく、ロット毎にバラつきがある可能性があります。EnlargeUV域強化アルミニウムのエクセル形式のデータはこちらからダウンロードできます。EnlargeUV域強化アルミニウムのエクセル形式のデータはこちらからダウンロードできます。EnlargeUV域強化アルミニウムのエクセル形式のデータはこちらからダウンロードできます。EnlargeUV域強化アルミニウムのエクセル形式のデータはこちらからダウンロードできます。Enlarge保護膜付きアルミニウムのエクセル形式のデータはこちらからダウンロードできます。Enlarge保護膜付きアルミニウムのエクセル形式のデータはこちらからダウンロードできます。Enlarge保護膜付き銀コーティングのエクセル形式のデータはこちらからダウンロードできます。Enlarge保護膜付き銀コーティングのエクセル形式のデータはこちらからダウンロードできます。mmビームのパワー密度はW/cmの単位で計算してください。このパワー密度の単位(単位長さあたりのパワー)が長パルスおよびCW光源に対して最も適した測定量である理由については、下記の「CWレーザと長パルスレーザ」をご覧ください。金属コーティング凹面シリンドリカルミラーの損傷閾値データ右の仕様は当社の金属コーティング付きシリンドリカルミラーの測定値です。損傷閾値の仕様は、コーティングの種類が同じであればミラーの焦点距離にかかわらず同じです。レーザによる損傷閾値についてこのチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。:LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。21254に準拠しています。初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。