当社の中赤外域用ビームエキスパンダは、コリメートビーム径を2倍、5倍、10倍に拡大、または1/2、1/5、1/10に縮小できます。これらのガリレイ式ビームエキスパンダは収差の少ないエアスペース型設計で、波面誤差はλ/4未満に抑えられています(つまり回折限界性能)。拡大されたビームのM2値へはほとんど影響を及ぼしません。拡大されたビームは回折限界でビームウェストに集光できるため、光学系では高パワー密度の焦点を得られることができます。μmのスペクトル域用に最適化された広帯域ARコーティング付きとなっており、空気とガラスの界面における反射を最小限に抑えています。光学素子はセレン化亜鉛製です。μmで動作するCO2レーザの用途や、当社の量子カスケードレーザなどの赤外光源に適しています。コーティング」タブをご覧ください。特定の波長域用に最適化されたカスタム仕様の広帯域コーティングまたはVコーティングのお見積りについては当社までお問い合わせください。スライド式のレンズ設計により、レンズ調整時のビームのウォークオフ(変位)を最小限に抑えながら、コリメートの調整が可能になります。右側の写真内に見える赤いリングは、出射ビームのコリメート調整に使用します。mmボール(六角)ドライバまたは六角レンチ(いずれも付属しておりません)で固定ネジを締めて位置固定します。取付けオプションこれらのガリレイ式ビームエキスパンダの入出力部にはネジが切られているため、ビームエキスパンダの光軸に沿って簡単にレンズやフィルタを追加装着することができます。ビームエキスパンダの入射部にはSM05内ネジとSM1外ネジが付いており、当社のレンズチューブほか、光学部品が簡単に取り付けられます。倍率2倍のビームエキスパンダの出射部にはSM1外ネジが付いています。0.5の外ネジが付いており、アダプタSM2A30を使用してSM2ネジ付き部品を組み込むことができます。すべての筐体の取付け面ならびにネジ付きのエンド部分は、コリメート調整リングを回しても回転しない設計になっています。そのため、取り付けている光学素子に影響を及ぼすことなく、またポインティングの安定性を保ちながら広がり角の調整が可能となります。下記にはこれらのビームエキスパンダを光学ポスト、ケージシステム、あるいはキネマティックマウントに取り付け可能にする様々なアダプタをご用意しております。1.0ネジ規格の部品に対応させるためのアダプタSM1A52もご用意しております。当社では、こちらのビームエキスパンダ以外にも、広帯域用途向けのアクロマティック設計の固定倍率ビームエキスパンダ、UV溶融石英(UVFS)製の固定倍率ビームエキスパンダ、可変ズーム式ビームエキスパンダ、反射型ビームエキスパンダなど数多くの種類を取り揃えています。当社のビームエキスパンダのラインナップについては「ビームエキスパンダ」のタブをご覧ください。セレン化亜鉛(ZnSe)製光学素子の取扱いについてビームエキスパンダに内蔵の光学素子は危険物質でもあるセレン化亜鉛製です。レンズを取り扱う際にはお客様の安全のため、手袋の着用、取り扱い後の適切な手洗いなど、すべての安全上のご注意をお守りください。ZnSeの製品安全データシート(MSDS)はPDF形式でこちらからダウンロードできます。使用済みのセレン化亜鉛(ZnSe)レンズは当社で適切に廃棄いたします。廃棄をご希望の場合は、当社までご連絡ください。mmケージシステムに組み込むことができます。このビームエキスパンダの外径は、当社のSM1ネジ付きレンズチューブの外径と等しくなっています。お勧めの取付オプションについては下の表をご覧ください。下記をご参照ください。ビームエキスパンダは当社のネジアダプタをご使用になることにより様々なネジ付き部品に組み込むこともできます。mm)ビームエキスパンダの各面には2つのコーティング付き光学素子が取り付けられているため、合計で4つのコーティング面があることになります。ビームエキスパンダが対応可能な最大出力はARコーティングの損傷閾値により制限されています。下のグラフは当社の中赤外域用ガリレイ式ビームエキスパンダに組み込まれたレンズ両面のARコーティングの面当たりの反射率特性を表しています。ビームエキスパンダの各面には2つのコーティング付き光学素子が取り付けられているため、合計で4つのコーティング面があることになります。青色の網掛け部分は-E3コーティングの波長範囲を示しています。下の表はコーティングの仕様値です。Enlarge生データはこちらからダウンロードいただけます。青色の網掛け部分はコーティングの波長範囲を示しています。この範囲外での性能は保証されていません。右の仕様は当社のアクロマティック設計ガリレイ式ビームエキスパンダの測定値です。これはARコーティングの損傷閾値で、ARコーティングがビームエキスパンダが対応可能な最大出力を制限します。ビームサイズを縮小するためにこれらの製品を使用する場合、出射開口部での出力はこの損傷閾値を超えることがないようご留意ください。レーザによる損傷閾値についてこのチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。:LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。21254に準拠しています。初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。