SEMIは、半導体産業の複雑な2.5D/3Dパッケージング用途での微小構造の品質管理に最適化された自動測定システムです。完全自動の分析により、貴重なウェハー素材の損傷が防止されます。試験条件が一貫することで、高い信頼性の結果が生まれます。装置はクリーンルームでの使用に適合します。幅広い装置が搭載されており、既存のウェハー製造工場に簡単に統合することができます。Solutionsホームサイトマッププライバシー表明利用規約インプリントお問い合わせ。