-アドバンテストは10月10日、バーンイン工程を高スループット化することを可能にするNAND/DRAMを中心とした次世代メモリ・バーンイン・テスタ「B6700D」を発表した。同製品は、最大10MHzの速度で最大48枚のバーンイン・ボードを並列にテストすることができるほか、従来機種比で、1枚のバーンイン・ボードごとに最大2倍となる256Aの電源電流を供給、かつドライバピンも2倍としたことで、テストの高速化が可能となり、テストコストを削減することができるようになるため、同社では、NANDの多層化が今後、さらに進んでも、同時測定個数を減らすことなく、バーンインテストを実行することが可能になると説明している。従来機種「B6700」と同じOSを使用しているため、互換性もあるという。同製品は、すでに顧客向けの出荷を開始しているという。※本記事は掲載時点の情報であり、最新のものとは異なる場合があります。Corporation。