干渉計システムと共に、平面光学コンポーネントおよびアセンブリの表面品質または透過波面の測定に使用されます。反射性で表面を測定できます。TM塗装済透過平面が、干渉計に変えるビームの密度を低減するために使用される場合があります。反射性の表面に対応できます。基準光学も製造しています。問い合わせてください。透過平面それぞれはセルに取付られ、保管ケースが同梱されます。干渉計のアクセサリレセプタクルやその他の調整架台に直接取付ます。システム、または干渉計全般についての質問は以下のフォームをご利用ください。Japanによるコンタクトに同意する場合、このボックスをクリック。質問を以下に入力してください。本ウェブサイトの各ページ下部の“登録解除”リンクより、いつでも同意の取消しをする事ができます。]このサイトに進む場合、弊社のプライバシーおよびCookieポリシーに同意します。