実装基板の検査用のプログラム製作はテストデータシステム株式会社。インサーキットプログラム(インサーキットテスト)・ファンクションプログラムの製造開発ならおまかせ。汎用インサーキットテスタ用検査プログラムインサ-キットテスタ用プログラムの作成を承ります当社では、半導体および実装基板に必要なテストプログラム開発(ソフトウェア)を作成しています。各種汎用インサーキットテスタに対応するプログラムも作成いたします。回路図、ガ-バ-デ-タからでも作成可能。社内での内作からコストダウンの為、製作委託先をご検討中のお客様は是非弊社をご利用下さい。合理化及び人手不足を解消します。Pointシリーズテスト仕様につきましては、御打合わせの上、決定させて頂きます。・バウンダリスキャンテスト(JTAG機能テスト)・その他インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。・バウンダリスキャンテスト(JTAG機能テスト)・その他テスター用テストプログラム作成を一貫体制でサポート致します。Xpressテスト(SMTリード浮き検出)・バウンダリスキャンテスト(JTAG機能テスト)・その他インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。・その他インサーキットテスター用のピン治具製作及びプログラム作成まで一貫体制でサポート致します。対象機種HIOKI/OKANO/TAKAYA/TESCON全般ファンクション検査用プログラム製作ファンクション検査用の専用治具およびプログラムを製作します。詳しくはBUSINESS3各種検査に適合した治具を製作するとともに各種用途に合わせてファンクション検査構成を企画提案いたします。お客様にニーズに合わせて各種の実機テスト、ファンクションテストの仕様に対応いたします。コストダウンをご検討のお客様に対し各試験の自動化をご提案いたします。シリーズ実装基板検査に30数年携わってきた当社の特徴をご紹介いたします新製品を開発し検査をしたいが、どう検査したらいいのかがわからない。