ページもしくは巻、ページを入力してください。検索条件と一致する記事が見つかりませんでした。検索結果に複数のレコードがあります。号を指定してください。ページもしくは巻、ページを入力してください。検索条件と一致する記事が見つかりませんでした。検索結果に複数のレコードがあります。号を指定してください。巻、号、ページもしくは巻、ページを入力してください。検索条件と一致する記事が見つかりませんでした。検索結果に複数のレコードがあります。号を指定してください。抄録を表示する抄録を非表示にする半導体LSIの配線のエレクトロマイグレーション耐性の信頼性試験には時間がかかるため、サドンデス寿命試験を用いることが提案されている。それは、寿命分布の左裾に当たる、早期故障の観測数が確保できるため、より多くの配線が用いられるようになった今日の半導体LSIの、配線のエレクトロマイグレーションによる信頼性特性を調べるには適している。従来、確率紙を用いて寿命分布を選択することが多かったが故障データの確率分布に関して、本研究では、尤度に基づく方法で検討と選択を行う。実際のデータを解析し、エレクトロマイグレーションによる寿命分布の左裾の部分には、対数正規分布がよくあてはまる、という結論を得た。対数正規分布に基づくサドンデス寿命試験の推定精度の評価を行い、対数正規分布の尺度母数の推定精度はサドンデス寿命試験の組数を替えてもあまり変化しないが、位置母数の推定精度は一組のアイテム数が多くなると落ちるため、試験に使用する組数を増やすのが良いことを見た。抄録を表示する抄録を非表示にする信頼性寿命試験の結果を観測するのに破壊検査が必要な状況では、試験終了時にのみ正常か故障したかの二値データのみが観測される。岩本・鈴木[6]はそのような試験について母数の初期値を与えて試験計画を導出するという仮定の下で、幾つかの寿命分布の下でのD-最適な試験計画について考察を行った。本稿では、その計画の初期値への依存性の緩和を検討するために、複数のステージを経る逐次寿命試験へと拡張して、更新する条件付きD-最適な逐次試験計画を提案する。形状母数が既知のワイブル分布についてこの計画の性質を検討するとともに、小標本の場合の最尤推定量の偏りと分散も検討する。1.0の場合は、最適配分と比較しても1ステージのみでの試験で十分なFisher情報量が得られ、多ステージにわたって試験をする必要はないことがわかった。