X線テストチャートシルソン社では、X線顕微鏡の解像度チェックなどに用いられる微細なテストパターンを製造しております。電子ビームリソグラフィーにより50nm以下の線幅まで描画可能で、カスタムデザインにも柔軟に対応致します。国内外の放射光施設などに多数の納入実績を持っております。豊富な供給実績がございます。ゾーンプレートなどのご提案も可能です。カスタム仕様にも柔軟に対応致します。このメーカーの製品はこちらからこの製品についてのお問い合わせはこちらご覧いただいている製品の仕様にご不明点がある方は、お気軽にお問い合わせください。06-6532-1012フォームでのお問い合わせはこちら※お電話の受付時間:平日の(土日祝を除く)9:00~18:00お問い合わせはフォームでも受け付けをしております。