2】パワーデバイス・イネーブリング協会2015.10.13コピーしましたPR本コラムの第1回と同じく、今回はパワーデバイス・イネーブリング協会(PDEA)が主催する「半導体テスト技術者検定」の問題を紹介する(本コラムの詳細はこちら、PEDAについてはこちら)。今回は新作問題である。今回紹介するのは、テスト自体の品質に関する問題である。テストは半導体デバイスの品質保証において重要な役割を果たしているが、テスト自体の品質が高くなければ半導体デバイスの品質やコストに重大な影響を及ぼす。今回の問題に登場する「オーバーキル」はこのテスト自体の品質に関する重要な概念の1つだ。本コラムにて紹介する問題は、難易度を★の数で表している。★は1~5個で、★の数が多いほど難しくなる。今回の難易度は★★★。問題だけでなく正解とその解説も示しているので、仮に正答できなかった場合には解説を参考に新たな知識として吸収していただきたい。製造した半導体デバイスの電気的特性や機能を確認する試験における「過剰なテスト(overkill)」を説明した記述はどれか、(1)~(4)の中から選びなさい。New加速する自動運転の開発競争エレキ世界最大のファウンドリーが日本で求人あらゆるプロセスで顧客ニーズに対応セキュリティも万全な新IoT向けマイコン毎月更新。世界で戦える工場マネージャー養成講座(全2回セット)国内外を問わず工場のマネジメントを担う管理者に求められるスキルを体系的に学べる講座です。激変する自動運転分野の最新技術と事業課題などについて、世界の最新情報をお伝えします。SPICEのコンサルティング企業であるビジネスキューブ・アン...テスラ「モデル3/モデルS」徹底分解【ECU編】50個以上におよぶECUを分解写真付きで解説。IC・コストを徹底分析モビリティーサプライヤー進化論CASE時代に向けて、日系サプライヤーは生き残れるか。