(概要)タイコグラフィ-X線吸収微細構造(XAFS)法とは、放射光コヒーレントX線回折と位相回復計算に基づくナノ構造可視化技術であるX線タイコグラフィ法を入射X線のエネルギー軸方向に発展させることで、試料のXAFSのナノスケール空間分布を取得する方法である。本研究では、タイコグラフィ-XAFS法を用いて、相分離を示す電極材料を観察することで、界面を含むバルク全体のナノ・メゾ組織構造とイオン価数の分布を可視化する。A03班と連携し、データ科学を活用することで、ナノ・メゾスケールでの界面構造と価数の相関を解析する。オペランド・タイコグラフィ-XAFS法の開発を行い、充放電過程においてナノスケールで価数の変化する様子を調べ、蓄電固体界面の系統的理解へと繋げる。