視機能回復手段として人工網膜の開発・研究が進んでいる。人工網膜では残存網膜神経回路が正常に機能することを前提にしているが、視細胞変性にともなって大規模な網膜内回路のリモデリングが生じることが報告されている。網膜への電気刺激が残存する網膜神経回路の機能に対してどのような影響を及ぼすのか明らかにすることを目的とした。光学計測法により解析した。網膜刺激に対する網膜の細胞構築や神経節細胞の形態の変化を調べた。応答の広がりは少なくとも検討期間中ほとんど変化しなかった。この結果は、我々が現在進めている脈絡膜上-経網膜刺激型の人工網膜の開発において、失明後のリモデリングが大きな障害となる可能性は低いことが判った。同時に人工網膜の使用が残存回路の変性過程を加速させる可能性も極めて低いことが示唆された。