バウンダリスキャンテストシステムの高い機能性を採用した。XJTAGを採用した理由は、コスト効率の高さに加えて、テストプログラム開発ツールとしての高い柔軟性。テストプログラムは、デバイス単位で実装が簡単にできるようになっていて、ライブラリ化して再利用しやすい仕組みになっている。ツールには広範に渡るデバイスのテストライブラリが標準装備されていて、その再利用や基板に合わせた独自の修正は、バウンダリスキャンの詳細の理解無しに行える。メンテナンスまで製品ライフサイクルを介して活用できるし、同様の部品を使用する別の基板にも再利用できる。機能テストに統合することを視野に入れている。テストを再利用することで飛躍的に工数を削減。»サーブ社(Saab)は、民間および防衛に関するさまざまな製品とサービスを全世界に提供。営業拠点と従業員は全世界をカバーし、時と共に変化するお客様のニーズを満たすために常に新技術を開発し、応用し、改良している。デモ富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。デモ依頼などメッセージをお送りください。富士設備にまでメールでお問い合わせください。セットアップ、講習会を用意しています。