PowerPCを用いた画像処理基板のデバッグとテストに、XJTAG社製バウンダリスキャンテストツールを採用しました。それにより、BGA、SDRAM、イーサネットコントローラ、ビデオインターフェイス、Flashメモリ、FPGAなどを搭載する高密度実装基板のテストが可能となりました。group.XJTAGは製品開発ライフサイクルを通じて基板のデバッグ、プログラミング、テストをサポートする効率の良い開発ツールです。プロトタイプデバッグ、CADネットリストを用いてのデザイン検証、機能テストの開発、プロジェクト間の再利用が行えるようになり、開発工数・費用を飛躍的に削減します。けにシステムを納入する世界的メーカです。デモ富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。デモ依頼などメッセージをお送りください。富士設備にまでメールでお問い合わせください。セットアップ、講習会を用意しています。