日本電子(JEOL)とニコン(Nikоn)は共同で先月30日、「アスベストを中心とした環境分析セミナー」を大阪市内で開催し、両社の共同提案である「光学顕微鏡と走査電子顕微鏡を用いたアスベスト分析方法(AーCLEM法)」を中心に環境分析への取り組みを紹介した。Readerが必要です。ご使用のコンピューターにインストールされていない場合は、Adobe社サイトよりダウンロードしてください。サイトマップ|プライバシーポリシー|環境新聞発行案内メールのお申し込み(株)環境新聞社ホームページに掲載の記事・写真の無断転載を禁じます。すべての内容は日本の著作権法並びに国際条約により保護されています。