ICコンポーネントによる部品テストHD目視検査シルクスクリーン、コーディング、高品位検出はんだボールを含む高品位外観テストでは、酸化した部品と元の部品を検出できます。最終機能テスト機能テスト中、DUTからの出力信号の電圧レベルは、機能コンパレータによってVOLおよびVOH基準レベルと比較されます。出力ストローブには各出力ピンのタイミング値が割り当てられ、出力電圧をサンプリングするためのテストサイクル内の正確なポイントを制御します。オープン/ショートテストオープン/ショートテスト(導通テストまたは接触テストとも呼ばれます)は、デバイステスト中にDUTのすべての信号ピンに電気的接触が行われ、信号ピンが別の信号ピンまたは電源/グランドに短絡していないことを確認します。プログラミング機能テスト読み取り、消去、プログラム機能、およびデジタルメモリ、マイクロコントローラー、MCUなどを含むチップのブランクチェックを調べるX-RAYおよびROHSテストX-RAYは、ウェーハとワイヤボンドおよびダイボンドが良好かどうかを確認できます。Info@IC-Components.com。