DRAMウェーハのテスト効率に新しいベンチマークを設定-FormFactor、Inc.プライマリナビゲーションにスキップコンテンツにスキップカスケードプローブシステム当社は、所有コストを削減しながらプロセスのパフォーマンスを向上させるための、ウエハー上でのプロービングとボードテストのためのプレミアムパフォーマンス分析プローブステーションの完全なラインを提供しています。当社のプローブシステムには、顕微鏡、熱制御システム、ソフトウェア、業界をリードするプローブなどのアクセサリ一式が用意されています。すべてのプローブシステムを見るカスケードプローブウェーハ、パッケージ、およびボードレベルの特性評価用に50を超える分析プローブモデルを提供しています。当社のRF、ミックスドシグナル、DCプローブファミリは、さまざまなプローブ環境の課題に対応できるように設計されています。すべてのプローブ製品を見るプローブカードメモリ、RF、ファウンドリ、およびロジックデバイス向けの高性能プローブカードの幅広いポートフォリオを提供し、全体的な生産コストの削減、歩留まりの向上、「ムーア以上」の高度なパッケージングテクノロジの実現を支援します。すべてのプローブカードを見る計測FRT-FormFactor企業-は、開発生産や品質管理などのさまざまな分野向けの強力な表面計測ツールを製造しています。これらのマルチセンサーデバイスの設計と構造により、FRTツールは複数のアプリケーションに使用できます。FRTでさらに詳しくテストの専門知識FormFactorは、特性評価、モデリング、信頼性、設計のデバッグから、認定および生産テストに至るまで、設計から生産までの一連の作業全体にわたって顧客をサポートします。詳しく知る当社の製品とサービスについて詳しく知る準備はできましたか?お問い合わせ会社お客様は、実績のある製品ポートフォリオと経験豊富なエンジニアに頼って、今日のテストおよび測定の課題に対応しています。詳しく知る当社の製品とサービスについて詳しく知る準備はできましたか?お問い合わせセールス&サービスお住まいの地域の担当者をすばやく見つけて、セールスおよびサポートの質問に答えてください。2003年8月4日–先進的なウェーハプローブカードのリーディングプロバイダーであるFormFactor、Inc.(Nasdaq:FORM)は本日、業界をリードする253デバイスをテストする大面積アレイプローブカードの量産リリースを発表しましたダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)ウェーハのタッチダウンごとのテスト対象(DUT)。DRAMメーカーはテストに必要な設備投資を削減しながら、容量を増やすことができます。mmウェーハは、ウェーハあたりのDRAMダイの数の2倍以上。Researchの社長であるダン・ハッチソンは、次のように述べています。DRAMメーカーはより少ないタッチダウンでより多くのダイをテストできるようになり、テストセルのスループットをコスト効率よく向上させることができます。」FormFactorの大面積アレイプローブカードは現在、DRAMとフラッシュメモリの両方のウェーハテストに使用できます。カードの非常に高いDUT数は、FormFactor独自のMicroSpring相互接続技術と設計ツール、および熱補償機能を備えた大面積基板製品によって可能になりました。mmウェーハのテストが可能です。PH100およびPH150プローブカードは、材料マッチング技術を組み込んだ機械設計を利用して、幅広い温度範囲でプローブチップをダイパッドに正確かつ再現性のあるマッチングを実現し、高品質の電気接点と最小限のプローブ損傷を保証します。MicroSpringインターコネクトの大量かつ高精度の製造により、プローブチップが大面積に高密度で正確に配置され、数百のDUTのテストを同時にサポートするピンカウントが得られます。DUT設計の9,867個の個々のMicroSpringコンタクトは、FormFactorがシングルウェーハプローブカードに組み込んだプローブの最大数です。Wijk氏は次のように述べています。Simplifiedプライバシーポリシーを更新しました。当社のポリシーでは、このWebサイトでのCookieおよび同様のテクノロジーの使用について説明しています。収集した個人データの使用方法についても説明します。「同意する」(下)をクリックして、この使用に同意します。詳細については、FormFactorプライバシーポリシー。