)及び国際組織(UNDP、世界銀行等)の各種の政策研究プロジェクトに参加。(東京大学)、経済学修士(Yale大学)。1980-2006年同教授。1975-1978年にはイリノイ大学客員教授も務めた。おいて、ホログラフィー、レーザーを用いた光計測の研究開発に従事し、特に、この間に発明した白色干渉膜厚計は、液晶セルのガラス間隔を測定するための標準機となった。その後、中央研究所において、固体撮像素子を用いたビデオカメラ・システムの研究開発に従事し、1982年から、半導体デバイス、特に、固体撮像素子の研究開発に従事した。1990年東北大学より博士号(工学)取得。2007年7月より現職。(2003-2005)を経て現職。6010005005426)当サイト内の署名記事は、執筆者個人の責任で発表するものであり、経済産業研究所としての見解を示すものでは有りません。掲載している肩書や数値、固有名詞などは、原則として初掲載当時のものです。当サイトのコンテンツを転載される場合は、事前にご連絡ください。"ページの先頭へ戻る。