sのAt-Speedテストのブレークスルーが可能に-FormFactor、Inc.プライマリナビゲーションにスキップコンテンツにスキップカスケードプローブシステム当社は、所有コストを削減しながらプロセスのパフォーマンスを向上させるための、ウエハー上でのプロービングとボードテストのためのプレミアムパフォーマンス分析プローブステーションの完全なラインを提供しています。当社のプローブシステムには、顕微鏡、熱制御システム、ソフトウェア、業界をリードするプローブなどのアクセサリ一式が用意されています。すべてのプローブシステムを見るカスケードプローブウェーハ、パッケージ、およびボードレベルの特性評価用に50を超える分析プローブモデルを提供しています。当社のRF、ミックスドシグナル、DCプローブファミリは、さまざまなプローブ環境の課題に対応できるように設計されています。すべてのプローブ製品を見るプローブカードメモリ、RF、ファウンドリ、およびロジックデバイス向けの高性能プローブカードの幅広いポートフォリオを提供し、全体的な生産コストの削減、歩留まりの向上、「ムーア以上」の高度なパッケージングテクノロジの実現を支援します。すべてのプローブカードを見る計測FRT-FormFactor企業-は、開発生産や品質管理などのさまざまな分野向けの強力な表面計測ツールを製造しています。これらのマルチセンサーデバイスの設計と構造により、FRTツールは複数のアプリケーションに使用できます。FRTでさらに詳しくテストの専門知識FormFactorは、特性評価、モデリング、信頼性、設計のデバッグから、認定および生産テストに至るまで、設計から生産までの一連の作業全体にわたって顧客をサポートします。詳しく知る当社の製品とサービスについて詳しく知る準備はできましたか?お問い合わせ会社お客様は、実績のある製品ポートフォリオと経験豊富なエンジニアに頼って、今日のテストおよび測定の課題に対応しています。詳しく知る当社の製品とサービスについて詳しく知る準備はできましたか?お問い合わせセールス&サービスお住まいの地域の担当者をすばやく見つけて、セールスおよびサポートの質問に答えてください。この新しい機能により、LPDDR3メモリの最高速度仕様の速度でのウェーハテストが可能になり、メーカーに完全な既知の良好なダイ(KGD)テスト機能が提供されます。この新しいテクノロジーを備えたプローブカードは、最近、LPDDR3モバイルDRAMの4つのサプライヤーに納入されました。LPDDR2およびLPDDR3は、タブレットやスマートフォンなどのモバイルデバイスに最適なメモリテクノロジーです。「標準」DRAMテクノロジーよりも高速なデータ転送と優れたマルチタスク性能を実現し、電力消費を抑えてバッテリー寿命を延長します。メモリアレイが大きくなっても、DRAMメーカーがモバイルメモリの消費電力を削減しようと競争するにつれて、このテクノロジの展開が増加しています。市場調査会社のガートナーは、低電力モバイルDRAMが2014年末までに世界のDRAM収益の半分以上を占めると予測しています。*FormFactorは、低電力SDRAMが10年以上前に登場したときに、費用対効果の高い速度テストプローブカードの機能を開拓しました。それ以来、低消費電力で高速化というモビリティ主導の市場動向により、DRAMサプライヤに新たな性能要求が課せられ、その結果、電気的テストマージンが減少し、テスト頻度が増え続けています。at-speed-test要件を満たすことができます。FormFactorの社長であるマイク・スレッサーは、次のように述べています。「今日のモバイル駆動型半導体市場で成功するには、DRAMの顧客とATEサプライヤの両方との緊密なコラボレーションが必要です。当社の技術に合わせて協力することで、パフォーマンス機能を拡張し、今日のハイエンドモバイルDRAM部品の既知の良品テストを可能にしました。Simplifiedプライバシーポリシーを更新しました。当社のポリシーでは、このWebサイトでのCookieおよび同様のテクノロジーの使用について説明しています。収集した個人データの使用方法についても説明します。「同意する」(下)をクリックして、この使用に同意します。詳細については、FormFactorプライバシーポリシー。