特徴1.光切断によるスリット像観察とスポット光像によるAF(オートフォーカス)追従を組み合わせた新しいタイプの深さ高さ測定機です。2.連続追従AF駆動で繰り返し精度の高い測定が操作性良くスピーディーにできます。3.スリット像が映し出す段差形状を観察しながら測定する方式なので、測定画面上の高低をリアルタイムで認識でき、測定が必要な箇所を容易に判断できます。4.測定点でスリット像・スポット光像・電子ライン基準線の中心がすべて一致する測定システムで、そのズレのチェックにより誤った数値での測定を防止することができます。5.光切断の仰角は標準の90°の他30°60°120°と用途に応じて選択導入できます。※用途に応じての仕様変更・カスタマイズが経済的にご利用頂けます。高いAF駆動と、繰返し精度の良い測定が、自動のスイッチONと同時に、XY軸移動のテーブル上で、スピーディーに行なえます。(また、自動スイッチのOFFで、手動のミクロン深さ高さ測定機としてお使いいただけます。定−1細いスリット光が映しだす断面形状と赤色のレーザースポット光、白色の電子ラインの基準線の3点が、TVモニターの中央で一緒に重なり合って、測定面上の高低差をリアルタイムに認識して、測定数値を表示します。自動測定の優れたところは、操作性と、読み取り数値の再現性がよいことです。定−2弊社製の、ハロゲン光源を用いたミクロン深さ高さ測定機で測定ができなかった試料でも、赤色のレーザー光を使ったこの機種は、受光感度が高い素子との相乗作用が幸いして測定ができます。測定用のテストピースをお送り下されば、トライいたしますので、どうぞー。さ、高さ(段差)をスリット光で検出します。フィルム、基板等の凹凸、搭載部品の高さ位置、プレス部品、金型及び加工品、その他の精密加工品の測定・検査に最適です。PR.いろいろな種類の光学機器を製造しています。