甲19ATR用圧力管として使用されるZr-2.5Nb材平滑材において、刃状転位が集まってクラックを形成すること(9頁12行?16行、13頁6?7行、65頁の図39)等が記載されている。甲20W薄膜において、クラックの先端付近で密集した転位が存在していること(1268?1269頁「2.クラック近傍の転位」)等が記載されている。甲21NaCl単結晶において、転位は、最初のき裂先端から発生しているものが多くみられること(84頁左欄下から10行?同頁右欄14行、85頁図2)等が記載されている。甲23半導体材料や磁気ヘッド材料の加工変質層は、外的な元素の作用による変質層、組織の変化による変質層、応力を中心に考えた変質層に分類でき、このうち組織の変化による変質層には、転位密度の上昇が含まれること(10頁左欄の表1)、組織的変化などによる変質層(結晶構造に関連、繊維構造に関連又は結晶ひずみ)の測定方法(測定に用いられている機器の例)に電気抵抗があること(10頁右欄の表2)等が記載されている。