甲5846頁10行?20行に次の記載がある。試料に入射された電子線の強度は進入に従って透過波と回折波に分かれて試料中を進入していく。くさび形結晶試料の場合について、透過波の強度I0および回折波の強度Igを結晶厚みtに対して作図すると、図2.16の実線および点線のようになる。これは、電子線が試料を透過する際、ある深さまでは、回折によって回折波の強度が増加するが、一方、透過波の強度は減少すること、また、ある深さ以上では逆に回折波の強度が減少し、透過波の強度が増加することを意味する。入射された電子線の強度は透過電子波と回折電子波との間でうなりを生じる。その結果として、(b)におけるように、位置A、Bにおいて、明視野像では明るい(暗視野像では暗い)コントラストを得る。(b)に示す明暗の縞は等厚縞と呼ばれる。」また、47頁下から2行?下から1行に次の記載がある。「通常用いられる試料は極めて薄いために試料が平坦ではなく湾曲していることが多々ある。そのときに生じる縞のことを湾曲縞という。」また、48頁5行?11行に次の記載がある。して転位、面欠陥として積層欠陥がある。このうち、TEMで通常観察できる格子欠陥は、転位と積層欠陥である。これら格子欠陥の観察および解析には一般に、二波条件下での明視野法および暗視野法を用いる。ここでは、格子欠陥の型をどのようにして決定するか、すなわち、転位のバーガースペクトルの決定法および積層欠陥の変位ベクトルの決定法などについて説明する。後者では転位部が回折条件を満たすように試料をわずかに傾斜した。