(TEM)は試料に電子線を照射し、透過した電子波を電子レンズで拡大することにより数100倍から数十万倍以上の透過電子像や電子線回折像を得る装置である。透過像の観察による形態観察や電子線回折から結晶構造解析が可能となる。本装置は1高画素CCDカメラをフルインテグレート、2試料メッシュ全体観察を可能とする低倍率などの特徴を有し、シンプルな操作での像観察が可能である。備考欄*学外者の方でネットワークに登録されていない方は、直接、メールで設備管理者に問い合わせください。事務仕事担当の副管理者として辻村先生と森山先生が装置の操作やトラブルへの対応などの担当の副管理者として半先生、小瀬先生がそれぞれ担当します。(迷惑メール防止のため「@」が画像になっております。URLhttp://kenkyu-web.tuat.ac.jp/Profiles/1/0000023/profile.html設備一覧ページに戻る。