式(2)において,Cは屈折率が既知である試料を用いた実験により予め決定された定数である,屈折計。本件発明を構成要件に分説すると,以下のとおりである。本件特許の出願経過は,以下のとおりである。)をし,平成17年4月7日,公開特許公報(特開2005-91063。以下「乙5公報」という。フィルター手段(30)を有し,前記フィルター手段は,光源からの光の波長(L)を含む所定の波長域の光を選択的に投下させる波長フィルター(32,34)を含む屈折計。」というものであった。一の特許請求の範囲による分割出願(以下「本件出願」という。行い,)同年10月9日,特許請求の範囲の全文を,以下のとおり変更する補正(以下「本件補正1」という。)をするとともに,審査請求をした。角点(Pc)を算定し,臨界角点(Pc)に基づいて試料(S)の屈折率(n)を求める演算手段と,を備え,前記臨界角点(Pc)が,式(1)10により算定され,式(1)において,Xiは各受光素子の位置を表し,IiはXiにある受光素子における受光量(V)を表し,mは計算に用いる受光素子の数である,屈折計。め決定された定数である,請求項1に記載の屈折計。特許庁審査官は,平成23年9月13日,本件特許出願は,大要,以下の3つの理由により拒絶をすべきものであるが,請求項2に係る発明については現時点では拒絶の理由を発見しない旨の拒絶理由通知(以下「本件6拒絶理由通知」という。式(1)は,「Pc」に関するものではない点で,特許法36条6項2号に規定する要件を満たしていない。038】の記載によれば,式(1)により算定されるものは,「重心位置Pc’」であって,「臨界角点(Pc)」ではないから,「臨界角点(Pc)が,式(1)により算定され」ることは,上記段落を含め,発明の詳細な説明中に,記載も示唆もされていない。項1号に規定する要件を満たしていない。明中に,全く記載されていないから,この出願の発明の詳細な説明は,当業者が請求項1に係る発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載されたものではない点で,特許法36条4項1号に規定する要件を満たしていない。おり補正し(以下,この補正を「本件補正2」という。),特許査定を受けた。被告は,業として,被告製品を韓国の製造業者から輸入し,日本国内において販売している。9),少なくとも次の構成を有する。試料との界面をなす境界面を有するプリズムがある。プリズムの境界面に光を入射させるLED光源がある。プリズム境界面で反射された光を検出する光電センサがある。当該光電センサは複数の受光素子を有している。試料の屈折率を求める演算手段を備えている。試料の屈折率は臨界角点Pc(臨界角に対応する光電センサ上の位置)に基づいて算定されている。臨界角点Pcは,光電センサの受光素子の受光量から得られる光量分布曲線に基づいて算定されている。被告製品の構成a~d及びfは,本件発明の構成要件A~D及びFを充足する。先行文献の存在本件原出願の出願日である平成15年9月16日より前に,以下の文献が存在した。その装置」とする公開特許公報(特開平6-294737,平成6年10月21日公開。以下「乙2公報」といい,同文献に記載された発明を「乙2発明」という。発明の名称を「光学測定装置」とする公開特許公報(特開2002-277207,平成14年9月25日公開。文献に記載された発明を「乙3発明」という。発明の名称を「光学的手段による薄膜測定方法及び装置並びに成膜装置」8とする公開特許公報(特開平11-162954,平成11年6月18日公開。以下「乙4公報」という。SPS-3(2000)」(平成12年改訂。以下「甲8文献」という。特許法36条6項1号違反(以下「サポート要件違反」という。争点1(被告製品が構成要件Eを充足するか)(原告の主張)被告製品は,式(1)及び式(2)のいずれも充足するから,構成要件Eを充足する。これにより,,9臨界角点をより正確に求め,屈折率を精度良く測定することができるようにしたものである。式(1)と被告製品の構成eの式(A)は,いずれも同一の解を算出するものであり,重心を求めるという点でその技術的意義を同じくするとともに,本件発明と完全に同等の作用効果を有するものである。式(1)の変形本件発明の式(1)は,以下のとおりである。分母の変形式(1)の分母は,「Ii+1-Ii」に、1からmまでの数値を代入して、その和を求めよという意味を表しており,以下の計算と同じである。あり,式(1)の分母は,上記のように変形できる。分子の変形同様に,式(1)の分子は,以下の計算と同じである。5=(I2-I1)X1+(I3-I2)X2+・・・+(Im+1-Im)Xm=(I2X1+I3X2+・・・+Im+1Xm)-(I1X1+I2X2+・・・+ImXm)この式は,以下のとおり変形できる。この式は,以下のように変形することができる。I2(X2-1)+I3(X3-1)+・・・+Im+1(Xm+1-1)=(I2X2+I3X3・・・+Im+1Xm+1)-(I2+I3+・・・+Im+1)が成立するから,上記式は,以下のように変形することができる。20ここで,上記式の左右両端のΣの差は,(I2X2+I3X3+・・・+Im+1Xm+1)-(I1X1+I2X2+・・・+ImXm)であるから,I112X2からImXmまではプラスとマイナスのペアが1組ずつ登場するため互いに打ち消し合ってゼロになり,残るのは最初と最後の項のみとなる。以上から,式(1)の分子は,以下のとおり変形することができる。記載参照)は,以下のとおりである。式(A)から式(1)’への変形式(A)において,「c+n」を「m」に,「c-n」を「1」にそれぞれ置換すると,以下の式(1)’となる。式(1)’の分子の左側を展開すると,以下のとおりとなる。Xmは,添え字mで指定される各受光素子の位置(アドレス)であり,mが1増えればXmも1増えるから,Xm=X1+m-1が成り立つので,上記式は,以下のように変形することができる。12このうち,中央の式(I1(X1+m-1))を展開すると,以下のとおりとなる。上記式のΣは(I2-I1)+(I3-I1)+・・・+(Im-I1)であり,(I2+I3+・・・+Im)-I1(m-1)であるから,上記式は以下のように変形することができる。プラスとマイナスのI1(m-1)が登場するので整理すると,上記式は,以下のとおり変形することができる。式(1)と式(1)’ないし式(A)の比較変形後の両式を並べると,以下のとおりとなる。方が式(1)よりもmが1つ少ない)ことであるが,mは,計算に用いる受光素子の数であって,何個のデータを用いて計算をするかということであるから,任意の自然数を採り得る。「m」をに置き換え,あるいは式(1)の「m」を「m-1」に置き換えても差し支13えがないから,両式は,全く同一の計算式であるということができる。式(1)’は,式(A)における「c+n」を「m」に,「c-n」を「1」にそれぞれ置換したものであるから,式(1)と式(A)も,全く同一の計算式である。式(1)が重心を求めていることn個の部分の重心の位置は以下の式で求められる。これを,Σを用いて表すと次のとおりとなる。10式(1)は,以下のとおりであるから,上記の式と対比すれば,これが重心を求めていることが明らかである。記載されているとおり,光電センサの各受光素子の受光量から得られる光量分布曲線の一次微分曲線(あるいは一次差分曲線)の重心である。光量分布曲線は,光電センサの各受光素子の受光量から得られるが(構成要件D),これは,横軸にXi(受光素子の位置),縦軸にIi(受光量)をとって,二次平面上に表される曲線である。i番目の位置に対応する受光量とi+1番目の位置に対応する受光14量との差分であるから,式(1)で求めているのは光量分布曲線の一次差分曲線の重心であり,これを視覚的に表現すると下図のようになる。されている曲線がその一次差分曲線である。一次差分曲線の重心を求める計算式である。受光素子の位置に各対応する受光量につき,それぞれの差分を求めていることからも読み取ることができる。ついて何の説明もないから,「より複雑な計算手段」には技術的15意義がないものと理解せざるを得ない。被告製品に仮に式(B)が存在するとしても,本件発明に別の手法を付け加えたものであり,被告製品の認定において考慮すべき必要性を欠く付加的構成にすぎない。一般的なものであり,かかる手法を採用することで,被告製品に何らかの技術的意義が付加されるものではない。被告が式(B)の技術的意義を明らかにしない以上,式(B)には技術的意義がないものと理解せざるを得ない。式(2)は,以下のとおりである。しない曲線が検出されるため,これを直接検出するのは極めて困難である。原告は,試行錯誤の末,安定的に算出できるのは重心位置(Pc’)であることを見出したので,これを算出した上で定数Cを加えることで臨界角点(Pc)を得るという発想に至った。重心位置(Pc’)との差分を定数Cとして装置に記憶させることにより,重心位置(Pc’)と臨界角点(Pc)との差を埋めることが可能となる。式(1)を用いた場合に,臨界角点(Pc)をより正確に求め,屈折率を精度よく測定するために不可欠な数値としての意義を有しており,理論上の臨16界角点(Pc)と光量分布曲線の一次微分曲線(一次差分曲線)の重心位置(Pc’)との差を埋める数値である。線)の重心位置という概念的に区別し得る測定対象についての差を埋める数値である。(甲7),Brix値は水であれば0%となるから,水に対するBrix表示値が0となるような調整値(定数C’)を設定している。水(Brix値0%)を計測した場合にBrix表示値が「0」となるような原点位置(零点)を採用することになる。角点)」(同18.50000)と,「水の臨界角点と重心位置の各アドレス値の差分」(同0.04758)の合計値を採ることになる。位置である臨界角点」であるといえる。定数C’は,水を試験的に測定することにより決定されているた17め,「屈折率が既知である試料を用いた実験により予め決定された定数」に当たる。被告製品は,(ア)を実現するため,以下の式を用いている(以下,この式を「式(C)」という。当たるから,ΔPcは,PC0を原点としたときの試料の臨界光が入射する光電センサ上の位置(アドレス値),すなわち「臨界角に対応する光電センサ上の位置である臨界角点」に当たる。表示されるようになる。これを図示すれば,以下のとおりとなる。上図の上側のメモリは,光量分布曲線におけるアドレス値を表しており,この目盛りでは,CCDの端が基準点(零点)である。PC0を基準点とするのは,PC0のBrix値が0%となるようにするためである。CT20が指Pし示している位置と全く同じ位置,すなわち臨界角点である。「較に正」を意味する「Calibration」との記載があることからも明らかである。式(2)を用いて臨界角点を求めている。C0は定数Cに対応する数値であP19る。差分を調整することで臨界角点を求めていることに変わりはない。したがって,式(C)は,式(2)を充足する。算出は,式(A)及び式(B)を用いた計算工程だけでは重心位置しか算出されないために完結せず,式(C)を用いて初めて臨界角点が算出される。調整すること,すなわち,PC0を基準点とする目盛りの読み直しをすることで,個々の装置が正しい値を示すように調整しているのであるから,ΔPcの示す位置は,「臨界角に対応する光電センサ上の位置」である臨界角点にほかならない。式(1)と式(A)は異なる式であり,その技術的意義も異なる上,被告製品は式(2)を用いていないので,被告製品は,構成要件Eを充足しない。被告製品の構成20被告製品の臨界角点の算出に係る構成を,構成要件Eに従った形式で表すと,以下の構成eのとおりとなる。算し,当該P1~P5の平均値を算出して,臨界角点Pcを算出する。Zn値の算出被告製品は,まず,式(A)を用いてZnを計算するが,このZnは,受光素子のアドレスを変化させながら計算される計算値であり,nを1~13に変化させながら13通りの計算をしている。大となる受光素子の位置(アドレス),Icは当該Xcのアドレス位置における受光素子の受光量,nは変数である。Pk値の算出Z1~Z13を算出した後,次の式(B)に基づいて,Pk値を算出する。ここで,kは試行数であり,被告製品においては1~5の数値をとるので,P1~P5の値が算出される。式(B)は,Znを単純平均するものでなく,ZnにZnとXc(光量分布曲線の傾きが最大となる受光素子の位置)との差を加算した上で,その平均を21算出している(下図参照)。Pc(臨界角点)の算出P1~P5の平均値を算出してPcを算出する。温度補正臨界角点Pcの値は温度によって変化するが,Pc値と当該値測定時の温度から,20°Cの環境下にある場合に臨界角点PCT20を演算できる。ΔPcの算出(ゼロ調整)被告製品では,基準点として,あらかじめ測定した20°Cの環境下における純水の臨界角点PC0を用いて,以下の式(2)より,PCT20と基準点との変位を計算する。Brix値の演算ΔPcとBrix値とは線形の相関性を有しており,被告製品においては,同相関性に関するデータが記憶されていることから,これを参酌し,ΔPc値から当該試料のBrix値を算出する。較正された上で表示される。式(1)について22式(1)と式(A)は,形式的に異なるのみならず,式(1)と式(A)及び式(B)とでは技術的意義も異なっている。式(1)と式(A)が形式的に異なる式であること式(1)は,以下のとおりである。5一方,式(A)は,以下のとおりである。明らかなとおり,両者は形式的に異なっているから,被告製品は,構成要件Eの文言を充足しない。式(1)を変形した式が全て本件発明の技術的範囲に含まれるとすると,本件発明の技術的範囲が無限に拡張し妥当でない。本件発明は,重心位置を算出するための式(1)を用いて臨界角点を求め,これに式(2)を適用して較正を行っている。式(1)は,あらかじめ定められた所定数mの範囲で重心位置Pc’を算出するが,飽くまでも所定のmにおいてPc’を1度算出しているにすぎず,これに定数Cを加えて(式(2))臨界角点を算定している。これに対し,被告製品におけるZnは,繰り返し算出される複数の計算上の数値であり,繰り返し計算されるZnの計算上の数値の一つから,直ちに重心位置に相当するPc’値を算出していない。式(B)は,式(A)により算出されたZnにZnとXc(光量分布曲線の傾きが最大とな23る受光素子の位置)との差を加算した上で,その平均を算出するものであり,この点でも,式(1)とは異なる。重心位置とは異なる位置を臨界角点としているのであって,式(1)により重心位置Pc’を算出し,そこに定数Cを加えて臨界角点Pcを算出するものではない。被告製品においては,上記のような計算を繰り返すことで,ノイズを可及的に排除し,より正確な臨界角点を算出しているものである。このように,本件発明と被告製品の技術的意義はそれぞれ異なるから,式(A)と式(1)を,数学的変形等により同一式に変形し得るとしても,被告製品は,本件発明の構成要件Eを充足しない。臨界角点PcもZnの平均値ではないから,同式は単なる付加的構成ではない。式(B)は,複数の試行とデータ解析に基づき,経験的に算出された式である。Znとをプロットした際に線形性に問題があるため,誤差が多く発生することが判明した。点を算出した方が,誤差が小さくなることを見出したものである。(赤線)のデータと比較して線形性に乏しく,Brix値との関係で非線形的な要素が多く混入していることが確認できる。rix値との関係でより線形性が維持され,誤差が小さくなっていることが分かる。点を,より正確に算出することが可能となるのである。点(複数のデータの加重平均等から特定したもの)であり,定数Cは,当該装置毎の個体差を較正する値であり,Pcは,定数Cにより測定値ベースの25Pc’を較正した当該装置における設計上の臨界角点の値である。Pcを計算するに際し,定数Cのような特定の値を加えて個々の装置毎の個体差を補正しておらず,式(B)によりP1~P5を計算した上で,その平均値を計算して臨界角点Pcを算出するのであるから,被告製品は,構成要件Eを充足しない。差し引く数値であって,原告主張のCALOffSet値に相当する。補正するための数値であり,測定上の臨界角点と,個々の装置の設計上の臨界角点との差であるのに対し,被告製品におけるPC0は,ΔPcを算出するための基準数値にすぎず,測定した資料のΔPcから当該試料のBrix値を計算している。数値ではなく,試料のBrix値を計算するための値となるΔPcを算出するための基準数値にすぎないから,本件発明の定数Cに対応する概念ではなく,ΔPcも,20°C環境下における試料の臨界角点と純水の臨界角点との差であるから,本件発明の式(2)のPc(試料の設計上の臨界角点)に対応する概念ではない。争点2-1(乙2発明に基づく進歩性欠如)について(被告の主張)26本件発明は,当業者が乙2発明に乙3発明及び周知技術を適用することにより容易に想到することができたものであるから,進歩性を有しない。【0017】~【0022】の記載によれば,乙2発明の内容は,以下のとおりと認められる。本件発明と乙2発明の一致点本件発明と乙2発明は,本件発明の構成要件A~D及びFにおいて一致する。乙2発明では,臨界角点を算定するために式(1)及び式(2)を用いていない点で相違する。較正を行うことは,本件特許出願時における周知技術にすぎないものである。本件発明の式(1)が臨界角点を直接検出する式であること臨界角法を用いた屈折計では,臨界角に相当する明暗の境界の位置を読み取ることによって屈折率を求める。本件発明におけるPc’は,特定の装置において測定により得られた測定ベースの臨界角点であり,較正を行うための式(2)において,定数Cにより,設計上の臨界角点Pcが算出される。算出される重心位置Pc’がそのまま臨界角点Pcとなることに鑑みても,28重心位置Pc’は,測定値ベースの臨界角点であるから,式(1)は,臨界角点Pcを直接検出するための式であるといえる。Pc’が臨界角点であることは,前記前提事実(2)エ記載の原告の出願経過からも明らかである。絶理由通知を受けて,請求項1に請求項2の限定を加える本件補正2を行ったが,原告が実際に「式(1)は臨界角点を直接検出する式ではない」と認識しているのであれば,記載不備を指摘されることが明白な本件補正1をすることはあり得ない。乙2発明は,正確に臨界点(Pc)を検出できるようにすることを目的とする発明であり(段落【0009】,【図1】),臨界角,すなわち光量分布曲線のエッジ位置を正確に検出することを課題とするものである(段落【0005】)。臨界角点を検出することは,プリズム境界面で反射された光(反射光)の光電センサにおける明暗の境界(エッジ位置)を検出することと同義である。【0043】,【0044】,【0052】~【0058】,【図8】,【図9】)からすれば,乙3発明の内容は,以下のとおりと認められる。界を正確に検出することを課題としている。すると,乙2発明と乙3発明は,技術分野が関連しており,光量分布曲線の臨界角点,すなわちエッジ位置(明暗の境界)を正確に検出するという共通の課題を有する。光量分布曲線の一次微分曲線(あるいは一次差分曲線)の重心位置を得るべく,乙3発明を組み合わせる動機付けがあり,乙2発明に,乙3発明の上記式(A)(本件発明の式(1)に相当する。)を組み合わせて臨界角点を算出することは,当業者にとって容易である。本件発明は,式(2)に示されるように,式(1)により算出した重心位置Pc’に定数Cを加算したものを臨界角点(Pc)とするものであって,定数Cは,較正用の調整値である。理解できるが,それ以外の意義を有することは全く読み取ることができない。原告は,本訴提起前から,式(2)が単なる較正のための式であると繰り返し主張してきたのであるから,式(2)がそれ以外の技術的意義を有するとは考えられない。発明の「屈折率が既知の試料」にそれぞれ対応する。甲8文献にも,「屈折計の校正」について,「いくつかの屈折計メーカーでは校正用として,既知の屈折率の小さなガラス板,又はガラスプリズムを用意している。屈折計のプリズム上に,α-bromonaphthalene液をごく少量たらして薄い層にし,その上に校正用ガラスプリズムを載せる。その校正用プリズムの屈折率に相当する読み値が得られるように計器の目盛を調整する。」旨(2頁24行目~27行目)や,校正用プリズムの代わりにショ糖液を校正目的で使用すること(3頁6行目~8行目),また,このような校正が本件発明の屈折計であるAbbe型屈折計にも当てはまること(3頁21行目~23行目)が記載されている。このように,計測機器の使用に際し,較正を行うことは,本件発明の出願当時,計測機器の分野における周知の技術であった。ことを阻害するような要因もない。原告は,本件発明を実現するためには,式(1)と式(2)の両方が不可欠であると主張する。8】のみであって,式(1)と式(2)の両方が不可欠であることについての開示も示唆もない。31また,原告が本件補正1を行った際,式(2)は,その請求項1に含まれておらず,別途請求項2に記載されていたことは,原告が式(2)を本件発明の実現に不可欠ではないと認識していたことを示している。特化して適用されるべきものではなく,臨界角点を検出するための他の数式にも適用可能な式である。式(2)の定数Cと式(1)の各変数との間に,何ら特別な関連性は存しない。したがって,式(1)と式(2)は一体的に理解すべき数式ではなく,原告の上記主張は失当である。原告は,乙3発明は臨界(角)点の測定と全く関係がなく,また,乙2発明と乙3発明の技術分野は異なるなどと主張する。乙3公報の【発明の属する技術分野】には,「本発明は,測定対象物に光を照射し,その透過光または反射光の光量分布を測定する光学測定装置に関する。測定対象物からの反射光の光量分布を測定する技術に関するものでもある。乙2発明において検出される臨界(角)点も,反射光の明暗の境界である。点でも,技術分野の関連性を有する。原告は,乙2発明と乙3発明の組合せに阻害要因があると主張する。臨界(角)点を検出することと反射光の明暗の境界を検出することとは同義であるから,乙2発明は,反射光の明暗の境界の検出を指向するものであるということができる。らの透過光又は反射光の明暗の境界を検出するものである。したがって,乙2発明に乙3発明を適用して,プリズムからの反射光の32明暗の境界,すなわち臨界(角)点を検出するために,光量分布曲線の一次微分曲線の重心位置を用いることを阻害する要因は存しない。原告は,乙2発明と乙3発明を組み合わせた発明に更に式(2)を適用する動機付けを欠くと主張する。較正することは技術常識であるため,一般に,較正そのものに特徴を有する発明でない限り,特許明細書等において,較正につき,わざわざ言及されることはない。乙3発明は,そのような発明でないため,式(2)のような定数Cを加算することが全く想定されていないのではなく,技術常識であるがゆえに較正に言及されていないにすぎない。したがって,当業者が,乙2発明と乙3発明を組み合わせた発明に更に式(2)を適用することに,何ら困難性はない。算出した位置に,屈折率が既知である資料を用いた実験により予め決定された定数Cを加算する(式(2))ことで,臨界角点(Pc)を算定することができることを見出したものであり,これにより,臨界角点をより正確に求め,屈折率を精度良く測定することができるようにしたものであるから,本件発明の技術的意義は,構成要件Eにある。乙2発明の内容について本件発明と乙2発明を正確に対比するためには,乙2発明においても本件発33明の技術的特徴である構成要件Eに対応する構成e’を認定することが当然に必要となるが,その内容は以下のとおりである。