Siフォトダイオードです。〜0.0124nm)、低エレクトロン・イオンエネルギーに及びます。UV、EUV、軟X線領域に於ける絶対値測定(NIST、PTB他の研究機関にて較正)が容易に行える検出素子として、高エネルギー研究分野・EUV関連開発用途で定評があります。Diode社から提供されています。(RITE社)X線/EUVの強度モニタリング、光学アライメントに最適なRITE社xPINは、IRDフォトダイオードのインジケーターとしても便利にご利用頂けます。