System2.5ソルベントマネージャーをチェックするサンプルマネージャーの接続を外して、ソルベントマネージャーと質量分析計を接続し、直接質量分析計に送液します。コンタミネーションピークが検出された場合は、ソルベントマネージャーに汚染があると考えられます。コンタミネーションピークが検出されない場合は、サンプルマネージャーに原因があると考えられます。洗浄液をサンプルマネージャーに送液し、廃液します。同じ溶媒をニードルウォッシュラインにも送液します。オーバーフィルでフルループで注入)注入します。その後、移動相に戻し十分にフラッシュします。サンプル容器のいずれに原因があるかを特定します。希釈溶液として使用している有機溶媒、水、酸をチェックします。水とアセトニトリルまたはメタノールを同比率で混合した溶媒に0.1%のギ酸を添加します。検出器にシリンジポンプで注入します。このブランク溶液でコンタミネーションピークが検出されない場合は、分析対象のサンプルに汚染があると考えられます。コンタミネーションピークが検出された場合は、次のステップbへ進みます。シリンジポンプまたはサンプル瓶をチェックします。各々のコンポーネントをクリーニングするか取り替えます。それから、注入テストを繰り返してください。コンタミネーションピークが検出されず、シリンジポンプとサンプル瓶がクリーンならば、ステップdへ進みます。注入量を変更してみますサンプル希釈液を取り替えても問題が解決しなければ、注入量を2倍かそれ以上に変更します。コンタミネーションピークが注入量の変化に比例して増減するならば、サンプルが汚染されている可能性があるので、新しいサンプルを準備するか、または更なるサンプルのクリーンアップが必要かもしれません。注入量の変化がコンタミネーションピークの大きさに影響しないならば、3章の“コンタミネーションの洗浄”に進みます。ニードルウォッシュ液をチェックします。適切なニードル洗浄液が選択されているかを確認します。適切でないならば、正しい洗浄溶液を選択します。注入を行い、コンタミネーションピークが検出されるようならば、ステップeの手順に進みます。インジェクターのチューブ、フィッティング、特にインジェクターとカラムの出口の接続部品をチェックします。デッドボリュームがある場合、コンタミネーション成分がそれらのスペースにたまる可能性があります。チューブやフィッティングを交換してから注入を行いコンタミネーションピークが検出されるかどうかを確認します。コンタミネーションが検出されるのでしたら、ステップfの手順に進みます。ニードルを交換します。交換後に注入を行い、コンタミネーションピークが検出された場合はステップgの手順に進みます。インジェクターの部品を交換する。(例:ニードル洗浄ポート、インジェクターポートなど)オペレーターズガイドを参照し、交換可能な部品を確認します。移動相でシステムをフラッシュ洗浄し、もう一度インジェクションを行います。コンタミネーションが解消されないならば、“MSシステムのトラブルシューティング”の手順に進みます。コンタミネーションが解消された場合は、ステップ2.7に進みます。System2.7カラムを再度接続するカラムを接続し、コンタミネーションの有無を確認します。コンタミネーションピークが検出された場合は、カラムを接続した状態で2.4~2.6gの手順を実施します。(シリンジポンプによる注入は省く)NOTE:カラムを接続し、LCシステムトラブルシューティングを行う場合は、2.6a~2.6bの手順は必要ありません。MSシステムのトラブルシューティングLSシステムのトラブルシューティングで汚染されている箇所を特定できない場合は、MSシステム側に汚染があると考えられます。CAUTION:バックグラウンドノイズの原因特定と完全除去に時間を費やすのはお勧めしません。MSシステムはある程度のバックグラウンドを持ち、その程度はシステムの感度に応じて異なります。置ではより高いバックグラウンドが確認されます。ロックスプレーソース部分のチェックMSのコンタミネーションはロックスプレーソース部分に一番見られます。部品の取り外し・洗浄・交換・テスト部品を取り外し、洗浄、交換、テストします。コンタミネーションが解消しない場合は、洗浄後に再度コンタミネーションが起こったと考えられます。この問題を避けるにはコンタミネーションの原因と考えられる部品をすべて同時に洗浄し交換します。洗浄後にバックグラウンドノイズが大きくなった場合は、最後に接続した部品を洗浄・交換します。LC/MSシステムの洗浄の具体的手順については3章の“コンタミネーションを解消するための洗浄方法”を参照します。コンタミネーションを解消するための洗浄方法LC/MSシステムの洗浄が必要な場合は、コンタミネーション成分とその原因の理解が非常に重要です。4章の“主要なコンタミネーション”を参照して下さい。洗浄の手順は実験室ですでに確立されている手順に基づきます。・これらの手順は逆相のLC/MSシステムに適用されます。LCシステムの洗浄3.1一般的な洗浄ガイドラインLCシステムの汚染物質を洗浄するには、高純度の有機溶媒を使用します。分が分かっている場合は、それがよく溶ける溶媒を洗浄に使用します。次のページの表2にはLCの洗浄に最適な溶媒が記載されています。100%アセトニトリルのような有機溶媒でシステムをフラッシュ洗浄し、コンタミネーションチェックを行います。この手順をバックグラウンドノイズが許容範囲内になるまで繰り返します。洗浄後、洗浄液を50%アセトニトリルまたは移動相で置換します。近)になるまで超純水(セクション1.2参照)を送液します。Practice(実験室安全基準)に従います。Sheet(MSDS)を参照します。WARNING:事故を避けるため溶媒や洗浄液を取り扱う際は、保護めがねと手袋を着用します。CAUTION:洗浄前にシステムから検出器とカラムを切り離します。CAUTION:UPLC、HPLCの洗浄には高純度の溶媒をご使用下さい。71500082502))を参照します。使用してはいけません。使用してはいけまなシステムの場合はせん。HASTELLOY(ハません。ロステロイ)シンカーは外しま・酸やアルカリでの洗浄後はす。付近)になるまで超純水でフます。CAUTION:いずれの溶媒もMSシステム、カラムに送液しないよう注意します。その後、移動相でフラッシュ洗浄し、完全に置換します。洗浄溶媒をサンプルマネージャーに送液します。同じ溶媒をニードルウォッシュ洗浄ラインに送液します。浄溶媒を大容量(フルループで)注入します。その後、移動相を送液し完全に洗浄液を取り除きます。汚染の可能性のあるMSシステムの部品を取り外し、洗浄、交換します。品表面の汚れを取り除きます。新しい部品や洗浄後の部品が再度汚染されないように、正しい手順に従って作業を進めます。多くの場合、流路に沿って部品を交換します。時に洗浄する方がよい場合もあります。高純度の溶媒とクリーンなガラス器具を用いるようにしてください。(1章の“コンタミネーションを防ぐために”を参照)a.クリーンな綿棒や起毛のない柔らかい布で部品を拭きます。CAUTION:毒性物質に触れないように注意します。手袋や保護めがねを必ず着用します。MS洗浄の推奨溶媒は表3を参照して下さい。超音波洗浄してはいけま音波洗浄してはいけません。最終的には水と混合可能な浄します。MS部品の具体的な洗浄手順はオペレーターズガイドを参照してください。NOTE:汚染物質を取り除くには、複数のステップが必要です。各ステップではクリーンな溶媒を使用します。c.コンタミネーションのレベルが小さくならない場合は、以下の溶媒の順序で部品を超音波洗浄します。・ジクロロメタン・アセトン・2-プロパノール各過程で15分~1時間超音波洗浄をします。汚染の程度や超音波洗浄機の能力に応じて、洗浄時間は調節します。CAUTION:PEEK部品やT-WAVEアッセンブリは塩素系溶媒、ヘキサン、アセトン、酸で洗浄してはいけません。これらの溶媒を使用すると部品にダメージを与えます。Systemd.洗浄前には、洗浄に使用する溶媒でガラス器具を共洗いします。e.洗浄が終了したら、部品から洗浄溶媒を取り除きます。クリーンな窒素ガスで部品を乾燥させます。CAUTION:溶媒の跡を残さないように素早く乾燥させます。溶媒の跡が残るとMSのパフォーマンスに影響します。3.6フロントパネルインジェクターその他の配管の洗浄を行うには、正しい取り扱い手順に従ってフロントパネルを外し洗浄します。円形の溝にはめ込まれているローターシールは汚染される可能性が高い部分なので十分に注意を払います。必要ならばシールの交換をします。3.7APIソース通常の分析時にはAPIソースは大量のサンプルにさらされるため、MSシステムのコンタミネーション箇所としてはとても可能性の高い部分といえます。一般的なメンテナンス手順に従って、ソース部分を取り外し、洗浄を行います。APIの部品を15分~1時間超音波洗浄します。CAUTION:溶媒の品質とガラス器具の洗浄についてのガイドラインを参照します。NOTE:イオン源とその奥はコンタミネーションが起こりにくい箇所です。3.8APIプローブAPIプローブに洗浄溶媒を送液して洗浄し、洗浄溶媒はクリーンな廃液ボトルに排出します。・ESIプローブチップ・ESIプローブの後ろのLCユニオンLCチューブ汚染されたチューブは洗浄するよりも、交換することをお勧めします。窒素ガスチューブ窒素ガスチューブが移動相やソースに溜まった溶媒により汚染された場合、全てのチューブとフィッティングを交換します。窒素ガス発生装置やそのフィルターの老朽化が、コンタミネーションの原因となることがあります。一時的に窒素ボンベに取り替えて確認します。窒素ボンベに取り替えてコンタミネーションが確認されなければ、窒素発生装置のカートリッジが汚染されていると考えられます。主要なコンタミネーションここでは、LC/MSシステムの主要な汚染物質をその原因とスペクトルと共にご紹介します。4.1ポリエチレングリコール(PEG)またはPEGに似たポリマーPEGは分子量分布をもつ合成ポリマーです。以下はPEG汚染の原因と考えられます。Solutionf.カラム図4はPEGのスペクトルで、44Da毎の連続的なピークが検出されます。System4.2金属イオン類リチウム(Li)、ナトリウム(Na)、カリウム(K)、銅(Cu)、プラチナ(Pt)、鉄(Fe3+)のような金属イオンもコンタミネーションの原因と考えられます。鉄は酢酸や酢酸バッファーの酢酸イオンと付加イオンを生成します。以下の原因によりLC/MSシステムは鉄に汚染されます。Feと酢酸の付加イオンのスペクトル基準イオン(ベースピークイオン、またはBPI)が検出される位置は、酢酸の結合数により異なります。上のスペクトルはMassLynxアイソトープモデルに基づいて表示しています。4.3フタル酸類(Phthalates)フタル酸類は可塑剤として用いられる物質で、コンタミネーションの原因となります。水やその他の溶媒、実験室の環境、チューブや水の保存容器のようなプラスティック器具、など幅広い箇所から汚染されます。フタル酸類にはフタル酸ジエチルヘキシル(DEHP)、フタル酸ジイソデシル(DIDP)、フタル酸ジイソノニル(DINP)、フタル酸ジオクチル(DIOP)が含まれます。フタル酸ジイソオクチルは以下の付加イオンを生成します。System4.4スリップ剤(アミド)スリップ剤やアミドを含むプラスティック製の袋は使用しないで下さい。3種類のアミドが一般的に使用されています。・オレアミド([M+H]+=282)・ステルアミド([M+H]+=284)・エルカミド([M+H]+=338)図6はアミドのスペクトルです。